Ионный проектор

Cтраница 3

В колбах, предназначенных для использования в качестве ионных проекторов, расположение деталей должно быть несколько иным. Как было указано Мюллером [1], желательно, чтобы расстояние между анодом и катодом было как можно меньше, для того чтобы свести к минимуму возможность вторичной ионизации в области падения потенциала. Поэтому отрицательный электрод делается в виде кольца, которое располагают на возможно более близком расстоянии от острия, и между кольцом и экраном создают электрический контакт. Тогда средняя длина свободного пробега ионов оказывается, большой по сравнению с областью падения потенциала. Расстояние от кольца до экрана может быть большим, так как ионы, образованные здесь, не причиняют помех. В ионных проекторах желательно наносить на экран покрытия из проводящего стекла, а не из металла. [31]

Появление изображений адсорбированных атомов на микрофотографиях, полученных при помощи ионного проектора, доказано достаточно четко. На рис. 20 а приведены микрофотографии почти чистой поверхности вольфрама. На рис. 20 6 представлен эффект ослабления поля в присутствии газа, дающего изображение и содержащего 10 частей этилена на миллион: появилось несколько новых центров эмиссии. При более длительной адсорбции, как следует из рис. 20 в, все острие полностью покрыто. [32]

Преимущество этого метода по сравнению с автоэлектронной микроскопией или использованием ионного проектора состоит в том, что при дифракции медленных электронов не нужны сильные внешние электрические поля; поэтому нет и деформации поверхности. Вместе с тем силы, которые удерживают адсорбированные атомы на поверхности, имеют величину не ниже напряженности поля. Поэтому результаты метода дифракции медленных электронов могут быть использованы для анализа нормального состояния поверхности. [33]

Здесь же можно отметить, что недавние исследования с помощью ионного проектора [121 - 123] гетерогенного зарождения паров металлов на вольфрамовом острие показали следующее: образование зародышей не начинается до тех пор, пока не возникнет адсорбционный слой с эквивалентной толщиной не менее монослоя - это наблюдение расходится с положенным в основу теории представлением и разбавленной поверхностной среде. [34]

Этот шаг был сделан Мюллером [68] в 1951 г. В его ионном проекторе, управляемом обычным способом, объект находится в атмосфере гелия. Поэтому для получения изображения налагают поле, достаточное для того, чтобы вызвать ионизацию гелия на поверхности, но не в свободном объеме. Образующиеся таким образом ионы ускоряются вдоль силовых линий в направлении флуоресцентного экрана, и на нем вырисовываются те ме-ета поверхности, которые характеризуются наивысшей скоростью ионизации. В то время как эмиссионное изображение выявляет лишь изменения интенсивности в зависимости от ориентации, ионное изображение указывает на расположение отдельных наиболее выступающих атомов поверхности. Несмотря на такое поразительное разрешение, использование ионного проектора для исследования адсорбции дает весьма неопределенные результаты вследствие того, что 1) еще не установлены условия, в которых атомы и молекулы адсорбированного газа становятся видимыми; 2) при наблюдении деталей атомного масштаба с помощью гелия адсорбированный газ может удаляться с поверхности; 3) даже если адсорбированный слой оказывается видимым, совместное действие адсорбции и приложенного поля может вывести поверхность из ее нормального состояния. [35]

Еще большее разпешение ( 2 - 4 А) получено п ионных проекторах. [36]

На рис. 66.18 показана фотография структуры кристалла платины, полученная с помощью ионного проектора. Отчетливо видна кубическая структура кристаллической решетки, которая, как известно, является гранецентрированным кубом. [37]

Десорбция комплекса вольфрам - азот при наложении высоких.| Десорбция азота под влиянием поля без нарушения решетки вольфрама. [38]

Во всяком случае эти данные указывают на возможность прямого наблюдения адсорбированных газов в ионном проекторе. [39]

В ходе проведенного недавно масс-спектрометрического исследования [ 13а ] ионов, образующихся в ионном проекторе, был обнаружен очень слабый эффект массы, когда водород заменялся на дейтерий. Отношение их крличеств является функцией от давления, приложенного поля и состояния острия. [40]

Другой проблемой, с которой обычно сталкиваются при проведении адсорбционных исследований с применением метода ионного проектора, является диссоциация в поле. Например, адсорбированная молекула углеводорода может терять свободно свисающие атомы водорода: они либо непосредственно отрываются под действием поля, либо, если эти атомы водорода находятся достаточно далеко от поверхности, они теряются за счет ионизации в поле. Молекула углеводорода может также расщепляться при адсорбции. Разумеется, с помощью ионного проектора невозможно установить, являются ли адсорбированные частицы исходной молекулой углеводорода или ее осколками. Тем не менее применение ионного проектора для исследования адсорбции веществ типа углеводородов обещает дать важную информацию. Например, в лаборатории авторов было показано, что ацетилен на вольфраме при температуре ниже 700 К неподвижен. Поэтому можно ожидать, что ионный проектор поможет обнаружить некоторые структурные особенности, присущие ацетилену в процессе адсорбции. [41]

В настоящее время применение тонких методов исследования ( электронного микроскопа с высокой разрешающей способ ностью, ионного проектора) позволяет непосредственно наблю дать структуру в атомно-молекулярных масштабах. [42]

АТОМНЫЙ ЗОНД - микроанализатор с пространственным разрешением порядка размера атома, представляющий собой полевой ионный микроскоп ( ионный проектор) в сочетании с масс-с. Полевой ионный микроскоп визуализирует поверхность проводящего кристалла с атомным разрешением. Далее выбранный для исследования атом ( или атомы) удаляется с поверхности, ионизуется за счет полевого испарения или десорбции полем, а затем направляется в масс-спектрометр для идентификации. [43]

Содержит описание методов определения величины поверхности, работы выхода, техники высокого вакуума, дифракции медленных электронов, ионного проектора, электропроводности, ИК - и УФ-спектров поверхности твердых тел, определения кислотности твердых тел. [44]

Рабочие части системы также легче термостатировать при необходимости; это же относится к монтажу фотографического оборудования, в частности для ионного проектора. [45]

Страницы: 1 2 3 4