Проекция - электронная плотность
Cтраница 2
Наибольший эффект в этом смысле достигается при переходе от проекций электронной плотности к трехмерным распределениям, который сопровождается увеличением количества структурных амплитуд, участвующих в построении ряда Фурье, от одной-двух сотен до нескольких тысяч. Переход к трехмерным распределениям электронной плотности-такова основная особенность последней стадии структурного исследования. Из этой особенности вытекает качественное различие в емкости эксперимента и расчета при разрешении двух кристаллохимических задач: определения структурного типа и уточнения межатомных расстояний. Первая задача во многих случаях решается на основании двух-трех рентгенограмм нулевых слоевых линий, вторая может потребовать нескольких десятков рентгенограмм и соответствующего увеличения времени расчетных операций. Во многих случаях расчетную часть работы можно значительно сократить за счет рационального выбора отдельных двухмерных и линейных сечений, вдоль которых располагаются атомы. В случае плоских молекул, ориентированных наклонно по отношению к координатным плоскостям, целесообразно произвести вычисление распределения плотности в некотором сечении с рациональными индексами h0k0l0, максимально приближающемся к плоскости самой молекулы. [16]
Таким образом, мотив структуры, выдвинутый в процессе уточнения обычной проекции электронной плотности, подтверждается анализом взвешенных проекций. [17]
Поскольку координаты Ва и Sc известны, координаты атомов кислорода можно определить из проекции электронной плотности или из разностной проекции, используя в качестве коэффициентов рядов Фурье F3 - F a, sc, где FBa, sc - структурные амплитуды, рассчитанные по координатам атомов бария и скандия. [18]
Предварительная модель структуры была выведена методом проб п ошибок, уточнение структуры проведено по проекциям электронной плотности. [19]
Таким образом, для определения координат атомов х, у, z достаточно построить две проекции электронной плотности. [20]
В сущности, в построении этой проекции не было необходимости - можно было найти сразу проекцию электронной плотности, так как атомы Pt расположены. [21]
Плоские группы симметрии, осуществляемые в проекциях межатомной функции, связаны с плоскими группами, характеризующими проекции электронной плотности, так же, как взаимосвязаны соответствующие пространственные группы. И в этом случае требуется лишить все элементы симметрии переносов, сместить их в общую точку-начало координат, добавить центр инверсии и размножить полученный комплекс трансляциями решетки, характеризующей проекцию электронной плотности. [22]
Пример структуры NaOH - 4H2O показывает, насколько большую осторожность необходимо проявлять при оценке результатов построения проекций электронной плотности. Процесс последовательных приближений, примененный к первым двум вариантам расположения атомов, дал вполне приличную картину распределения электронной плотности ( рис. 148, стр. [23]
Во многих случаях, в особенности при наличии сложных молекул или при многоэтажном мотиве структуры, на проекции электронной плотности возникают многочисленные наложения максимумов, крайне затрудняющие расшифровку структуры и определение координат перекрывающихся атомов. Такие наложения возникают особенно часто при наличии винтовых осей. Наложение трех одинаковых мотивов чрезвычайно усложняет анализ получаемого распределения. [24]
На основании 55 неравных нулю членов ( hkO) со знаками, определенными только относительно ксенона, была рассчитана проекция электронной плотности. Был оценен третий параметр каждого из положений йодной кислоты. [25]
Как уже говорилось выше, величина F2 для данного дифракционного луча ( для данной системы отражающих плоскостей) зависит от проекции электронной плотности на направление нормали. [26]
В последнем случае функция Ф имеет определенное преимущество перед рядом Фурье, позволяя уточнять координаты атомов, не разрешаемые по проекции электронной плотности вследствие наложений. [27]
Величина / pt так велика, что никакой имеющий значение структурный фактор не может быть отрицательным, и ряд Фурье для проекции электронной плотности может быть вычислен без каких-либо принципиальных затруднений. Результат показан на рис. 2; он является одним из первых примеров прямого определения кристаллической структуры. [28]
Как уже говорилось выше, величина F 2 для данного дифракционного луча ( для данной системы отражающих плоскостей) зависит от проекции электронной плотности на направление нормали. [29]
 |
Схема текстур рентгенограммы. [30] |
Страницы: 1 2 3 4