Cтраница 4
![]() |
Структура моногидрата L-аспарагина. [46] |
Модель структуры получена в основном методом проб и ошибок. Уточнение структуры проведено по разностным проекциям электронной плотности. [47]
Положения тяжелых атомов ( Fe, S) структуры были выведены из проекции функции Паттерсона. Координаты легких атомов найдены из проекций электронной плотности и разностных синтезов. [48]
Фурье - более простая операция, чем суммирование полного трехмерного ряда; в частности, упрощается определение сдвига по фазе. Этот способ дает результаты в форме проекции электронной плотности на двумерную плоскость. [49]
Для вывода модели структуры был использован бюргеров-ский метод минимализации проекций функции Паттерсона и параллельно знаковые неравенства Харкера - Каспера. Уточнение структуры проведено по последовательной серии проекций электронной плотности и по разностным синтезам. Координаты атомов водорода получены из разностных рядов и кристаллохимических соображений. [50]
Пробная модель структуры была выведена из проекций функции Паттерсона. Уточнение структуры проведено методом последовательных приближений по проекциям электронной плотности. [51]
На рис. 122, в изображена проекция электронной плотности, полученная после уточнения структуры. Как видно из сопоставления минимализованной проекции с проекцией электронной плотности, причиной отсутствия максимумов Clj и С1ц на первой из них является не столько относительная слабость этих максимумов, сколько их слияние с максимумами, отвечающими атомам цезия. [52]
Для вывода модели структуры впервые в структурном анализе была использована трехмерная функция минимализации. Полученные из нее координаты атомов уточнялись по серии проекций электронной плотности, разностным синтезам и, наконец, трехмерными расчетами по методу наименьших квадратов. [53]
![]() |
Координаты базисных атомов в структуре a - DL-метионина. [54] |
Модель структуры снметионяна выведена из харкеровских сечений ( у 0 и у 1 / 2) функции межатомных векторов. Уточнение структуры проведено по ( xz) и ( yz) проекциям электронной плотности методом последовательных приближений. [55]
В принципе это соотношение позволяет найти распределение электронной плотности и координаты атомов в ячейке кристалла. В простых случаях, когда положение атомов в структуре определяется небольшим числом параметров, можно довольствоваться построением проекций электронной плотности на направление или плоскость. Однако из интенсивностей можно получить непосредственно лишь квадрат модуля амплитуды Р г, а не структурную амплитуду F; последняя характеризуется фазой отражения, к-рая не может быть определена по интенсивности. Ее можно найти на последних этапах метода проб и ошибок, зная координаты большей части атомов; тогда ряды электронной плотности служат для выяснения деталей структуры. Неучет др. факторов, влияющих на интенсивность, приводит к большим отклонениям Л - фак-тора от указанных величин. [56]
В работе [81] сделана попытка исследовать структуру дибензоилметаната церия по одной проекции. Однако в более позднем структурном исследовании [82] было установлено иное положение атома металла и на основе анализа двух проекций электронной плотности высказано предположение о додекаэдрическом ( бисдифенои-дальном) строении молекулы комплекса. [57]
![]() |
Проекция электронной плотности на плоскость XZ фталоцианида. [58] |
Более того, здесь не потребовалось бы никаких последовательных приближений, H6o2 / pt4 / ci 4 / NH3 и, следовательно, знаки всех структурных амплитуд заведомо положительны. Структурные амплитуды F3 ( hOl), полученные непосредственно из интенсивностей отражений, могут быть использованы сразу для расчета проекции XZ электронной плотности. [59]
Плоские группы симметрии, осуществляемые в проекциях межатомной функции, связаны с плоскими группами, характеризующими проекции электронной плотности, так же, как взаимосвязаны соответствующие пространственные группы. И в этом случае требуется лишить все элементы симметрии переносов, сместить их в общую точку-начало координат, добавить центр инверсии и размножить полученный комплекс трансляциями решетки, характеризующей проекцию электронной плотности. [60]