Стандартная проекция

Cтраница 1

Стандартная проекция ( рис. 63) обычно используется для представления кристаллических структур и ориентировок кристаллов. Такой тип проекции получается при ориентировке на плоскости проекции кристаллической плоскости с малыми индексами. В таких проекциях полностью проявляется симметрия кристалла. В каждом конкретном случае три угла треугольников представляют эквивалентные направления 001, 011 и 111, образуя всегда одни и те же углы друг с другом. На проекции эти треугольники различны по форме вследствие изменения величины угловых и линейных элементов в различных частях проекции. [1]

Стандартной проекцией называется стереографическая проекция полюсов всех важнейших плоскостей кристалла, па которой изображены плоскости с малыми индексами. Точки на проекции обозначают выходы нормалей к плоскостям, индексы которых обозначены цифрами около точек. [2]

Отобрать стандартные проекции, для которых индексы направления, перпендикулярного плоскости проекции ( индексы точки в центре сетки), совпадают с вероятными индексами осей зон. Наложить кальку на одну из отобранных стандартных проекций так, чтобы проекции осей зон после поворота совместились с точками стандартной проекции, имеющими те индексы, которые предполагаются для осей зон. [3]

Выбор стандартных проекций определяется индексами осей зон, которые образуют эллипс на лауэграмме. [4]

Построить стандартную проекцию ( 101) цинка ( гексагональная сингония, с / а 1 86), указав плоскости совокупности 2110, ЮГО, 12111) и важнейшие зоны, к которым эти плоскости относятся. [5]

Ориентации осей дислокационных линий и некоторых векторов Бюргерса в решетке алмаза. [6]

С помощью стандартной проекции [111] ( для кубического кристалла) определяют кристаллографическое направление, соответствующее направлению линии дислокации, так как из условий эксперимента известна взаимная ориентация микрофотографии и кристалла. [7]

Полюсную фигуру накладывают на разные стандартные проекции и, вращая, проверяют, на какой из этих сеток проекции нормали от плоскостей MMt, для которых построена данная полюсная фигура, совпадают с максимумами на этой полюсной фигуре. [8]

На рис. 167 приведена стандартная проекция кубического кристалла, грани куба которого параллельны плоскости проекции. Оси X и Y кристалла лежат на плоскости проекции, поэтому полюсы плоскостей ( 100) и ( 010) расположены на основном круге. Ось Z перпендикулярна к плоскости проекции, так что полюс плоскости ( 001) находится в центре этого круга. [9]

Ориентация осуществляется с помощью стандартных проекций. Переход от эпиграммы к такой проекции проводится с помощью специальной линейки, на которой нанесено две шкалы: одна, соответствующая стандартной проекции ( сетка Вульфа), и другая, соответствующая углам на рентгеновской пленке. [10]

Стандартная стереографическая проекция для объемно-центрированных кубических кристаллов в направлении. [11]

На рис. 33 - 38 приведены стандартные проекции для направлений [001], 1111 ] и [101] в кристаллах с объемноцентрированной и гранецентриро-ванной кубическими структурами. Следует отметить, что проекции построены для углов ( 90 - б) 45, что характерно для обратной съемки лауэграмм. При использовании эти проекции увеличивают до диаметра, равного половине диаметра имеющейся сетки Вульфа. [12]

В случае совпадения индексы центрального пятна данной стандартной проекции и являются индексами атомной плоскости, параллельной плоскости прокатки, а индексы нормалей на стандартной проекции, совпадающие с выходами направлений вдоль ( НП) и поперек ( ПП) прокатки на полюсной фигуре, являются индексами кристаллографических направлений в решетке, совпадающих соответственно с направлениями НП и ПП. В случае многокомпонентной текстуры параллельно плоскости прокатки устанавливаются в одних кристаллитах плоскости с одними индексами, а в других - с другими. [13]

Определение ориентировок по построенным полюсным фигурам производят с помощью стандартных проекций ( сеток Закса), на которых изображены стереографические проекции полюсов плоскостей монокристалла с разными индексами ( Ш) при данной ориентировке кристалла относительно круга проекции. [14]

Кристаллографические индексы его определятся при совмещении проекции кристалла со стандартной проекцией. [15]

Страницы: 1 2 3 4