Стандартная проекция

Cтраница 3

Индексы плоскостей, дающие интерференционные максимумы на эпиграмме, и проекции важных кристаллографических направлений находят по стандартным проекциям. Выбор стандартных проекций определяется индексами осей зон, которые образуют гиперболы на эпиграмме, а само индицирование зон и максимумов можно проводить аналогично индицированию лауэграммы. Однако ввиду ограничения, накладываемого условиями съемки эпиграмм на значения углад ( угол ф45), гномостереографические проекции отражающих плоскостей находятся в центральной части круга проекций. Координатная сетка в этом районе линейно однородна, а поэтому двукратный поворот проекции, необходимый для приведения ее в стандартное положение, может быть заменен поворотом и смещением кальки с центра стандартной проекции до совмещения проекций отражающих плоскостей с точками стандартной сетки. [31]

Команда меню Tools Orthographic UCS ( Сервис Прямоугольные проекции) открывает подменю, в котором имеется несколько предустановленных видов стандартных проекций. [32]

Координатная сетка и построение полюсной фигуры. Плоскость проекции параллельна плоскости прокатки. Ось поворота ( MN образца совпадает с направлением поперек про катки. [33]

Области максимумов, соответствующие выходам нормалей к плоскости ( hkl), очерчивают контурной линией, заштриховывают и анализируют с помощью стандартных проекций для определения индексов плоскости и оси текстуры. [34]

В случае совпадения индексы центрального пятна данной стандартной проекции и являются индексами атомной плоскости, параллельной плоскости прокатки, а индексы нормалей на стандартной проекции, совпадающие с выходами направлений вдоль ( НП) и поперек ( ПП) прокатки на полюсной фигуре, являются индексами кристаллографических направлений в решетке, совпадающих соответственно с направлениями НП и ПП. В случае многокомпонентной текстуры параллельно плоскости прокатки устанавливаются в одних кристаллитах плоскости с одними индексами, а в других - с другими. [35]

В случае ориентации системы на изделие необходимо иметь программы геометрического процессора системы, осуществляющие преобразование данных трехмерной модели объекта в двухмерные отображения в виде стандартных проекций, сечений, разрезов. Когда в системе принята ориентация на чертеж, то данные об объекте проектирования хранятся в таком виде, который требуется для получения конструкторского документа. Если проектируются машины, имеющие аналоги или состоящие из типовых, унифицированных элементов, целесообразно строить систему, ориентированную на чертеж. Если же проектируются изделия, не имеющие аналогов или слабо поддающиеся унификации, желательно использовать принцип ориентации на изделие. [36]

Для определения текстуры прокатки по ППФ ее поочередно накладывают на разные стандартные проекции монокристалла до совмещения областей сгущения нормалей с выходами анализируемых нормалей на стандартной проекции. Обратную полюсную фигуру ( ОПФ) строят на основании измерений интегральной интенсивности отражений для разных плоскостей. С помощью дифрактометра в условиях фокусировки по Брэггу-Брентано полюсные плотности для разных плоскостей ( Phki), рассчитанные из соотношения отражений интенсивностей ( HKL) образца и эталона, наносят около соответствующего полюса ( hkl в стандартном треугольнике. Точки с одинаковым значением Рны соединяют уровнями Индексы полюсов ОПФ, около которых Рь. [37]

Кроме упоминавшейся уже возможности решения уравнений ( 17) и ( 18) с помощью счетной линейки, существует еще группа графических методов, связанных со стандартными проекциями сферы. Правильный выбор типа проекции для каждой частной задачи может существенно упростить истолкование поляризации. [38]

Стереографические ( а и гномостереографические ( б проекции граней кристалла. [39]

Взаимное расположение важнейших плоскостей кристалла по отношению друг к другу и к внешним координатным осям при данной ориентировке, зональные соотношения между плоскими сетками кристалла анализируют по стандартным проекциям. [40]

Аналогичную связь можно установить между полями Г, П2 и П, между полями П2, П3 и П и, наконец, между полями Пй, П2, П, и П, причем для стандартных проекций соответствующие углы наклона совмещенных осей могут быть зафиксированы раз и навсегда. Эти углы показаны на рис. 466 а для изометрической и на рис. 466 6 - для стандартной ортогональной димет-рической проекций. [41]

При изучении ориентировок кристалла, текстур и др. пользуются так называемыми стандартными проекциями, наглядно изображающими взаимное расположение важнейших плоскостей кристалла по отношению друг к другу и к внешним координатным осям при данной ориентировке. Такие стандартные проекции можно построить, совместив какую-либо плоскость кристалла с малыми индексами ( 001), ( НО), ( 111), ( 112) для кубических кристаллов, ( 0001) для гексагональных с плоскостью проекций и определив угловое положение других плоскостей кристалла по отношению к выбранной плоскости проекций. [42]

Проекции Меркатора служат для построения карты земной поверхности на поверхности цилиндра. Наиболее распространенными формами являются стандартная проекция Меркатора, в которой цилиндр касателен к земному экватору, и поперечная проекция Меркатора, в которой цилиндр касателен к земной поверхности по заданному меридиану. Конические проекции Ламберта служат для построения карты земной поверхности на конусах, которые пересекают земную поверхность по двум заданным параллелям. Полярная стереографическая проекция служит для построения карты земной поверхности на плоскости, касательной к земному шару в одном из полюсов. [44]

Построение стандартных сеток. Стадии I-IV. [45]

Страницы: 1 2 3 4