Параметрическое пространство

Cтраница 4

Новые эксперименты могут не потребоваться, если, например, оптимум находится в таком месте параметрического пространства, где эксперимент уже выполнен. Если это не так, то на основании проделанных вычислений определяют положение одного или более дополнительных экспериментов. После этого выполняют дополнительный эксперимент и его результаты добавляют к уже имеющимся данным. На основании полной совокупности данных возможно уточнение модели и предсказание нового оптимума. [46]

При использовании этого метода могут возникнуть трудности, если точки выбранного множества п сходятся в параметрическом пространстве слишком близко или вырождаются в подпространство с меньшим числом измерений. [47]

Двумерное отображение поверхности, ( а Параметрическое пространство. ( 6 объектное пространство. [48]

Границы поверхности в объектном пространстве определяются с помощью отображения в объектное пространство границ прямоугольника в параметрическом пространстве. [49]

Решение этих уравнений ц ц (), v v ( o) определяет в двухмерном параметрическом пространстве кривую, которая разбивает параметрическое пространство на области, среди которых можно найти и области устойчивости. Выделить эти области устойчивости можно, используя, например, алгебраические критерии, для чего в исследуемой области произвольно выбирается представитель ( ц0, v0) затем к полиному 4 ( Х; ц0, v0) следует применить любой критерий. [50]

Допустим, что решение dj следует принимать, если параметр W лежит в некотором подмножестве Q4 параметрического пространства и, а принятие решения dz целесообразно, если W лежит в дополнительном множестве Q2 QJ. Однако в QJ или Й2 могут быть точки, для которых решения dt и dz одинаково целесообразны. [51]

При использовании метода симплекса точки выгодно располагать таким образом, чтобы начальные эксперименты в максимальной степени покрывали параметрическое пространство. С хроматографической точки зрения такая перспектива мало привлекательна. Такое разделение можно провести очень быстро, но полученные хроматограммы плохо характеризуются по любым критериям. [52]

Схема полного факториала для трех параметров при двух уровнях ( с разрешения изд-ва. [53]

Линдберг и др. [16] описали для таких случаев систематическую процедуру, в которой они предлагают для перекрывания всего параметрического пространства использовать метод полного факториала. [54]

Для прохождения извилистых оврагов на поверхности целевой функции удобен метод покоординатной минимизации с поворотом системы координат в параметрическом пространстве [231], который выполняется линейным преобразованием переменных после каждой итерации. Система координат поворачивается так, чтобы одна из осей всегда указывала направление последнего удачного шага продвижения. После этого определяется новая система координат и повторяется поиск и продвижение по новому направлению уменьшения целевой функции. [55]

Страницы: 1 2 3 4