Профиль - линия
Cтраница 1
Профиль линии существенно зависит от значений параметров К, [ и т0, а также, конечно, и от вида коэффициента поглощения. [2]
Профиль линии определяется вероятностью распределения отдельных сдвигов частоты линии, т.е. вероятностью распределения электрического поля, воздействующего на атом. Амплитуда каждого смещения по частоте относительно центра линии пропорциональна количеству атомов, находящихся под воздействием соответствующего поля. [3]
Профиль линии может быть получен при помощи определения высот соответствующих точек линии над каким-нибудь постоянным уровнем и расстояний между этими точками, замеренных по горизонтали. [4]
Профиль линии определяется видом функции распределения импульсов электронов. Так, для газа свободных электронов профиль линии указанного спектра имеет параболическую форму, причем полуширина пропорциональна максимальной кинетической энергии электрона. [5]
 |
Принцип метода гомологических пар линий. [6] |
Профили линий этих пар должны быть как можно ближе друг к другу. Невозможно субъективно установить равенство почернений тонких ( резких) и широких ( диффузных) линий. [7]
 |
Схема оптической системы ионного источника. [8] |
Профили линий масс исследуемых веществ, полученные на серийных масс-спектрометрах с искровым ионным источником, обычно недостаточно четки. Это может быть вызвано следующими причинами: плохой настройкой прибора ( не выполняется двойная фокусировка), неравномерным освещением объектной щели ионами, действием объемного заряда в ионном пучке после прохождения им объектной щели. [9]
 |
Поверхности разрушения зубчатого колеса хвостового редуктора вертолета Ми-6 и схема распространения усталостной трещины, стартовавшей от основания зуба. [10] |
Форма профиля линий и закономерность их формирования указывают на продвижение трещины за полет вертолета с формированием одной усталостной линии. [11]
Исправление профиля линий для исключения инструментального уширения осуществляют путем сравнения с линиями эталона - природного графита. При этом допускают, что физическое уширение линии обусловлено блочностью структуры. Однако применение Фурье-анализа с расчетом коэффициентов на ЭВМ показало, что такое допущение ведет к занижению полученных результатов из-за леучтенного вклада микродеформаций в уширение дифракционных линий. [12]
По профилю линии устанавливается номер переходного пролета, считая от ближайшей анкерной опоры, участвующей в расчетной схеме. [13]
Над обтекаемым профилем линии тока сгущаются, а под ним-разреживаются. Поскольку расход между двумя линиями тока постоянен ( линию тока мысленно можно замелить жесткой границей), то, следовательно, над профилем скорости возрастают по сравнению с Ооо, а под профилем убывают. Если рассматривать идеальную жидкость, движущуюся без потерь, и считать, что на бесконечности давление постоянно ( рассматриваем чисто напорное течение без учета сил веса), то согласно уравнению Бернулли за счет изменения скорости течения давление над профилем должно понизиться, а под профилем повыситься. [14]
К показаны профили линий, соответствующие доплеровскому коэффициенту поглощения, полученные численными методами А. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5