Cтраница 4
На рис. 21.7 показана временная развертка профиля линии Щ, полученная с помощью электронно-оптического усилителя света. [46]
Исполнительные чертежи состоят из плана и профиля водосточной линии, выполненных на основании геодезической съемки построенного трубопровода. [47]
На линиях ГТС нумерацию цепей при крюковом профиле линии ведут так, что первый номер относится к цепи, расположенной со стороны линии, обращенной к проезжей части улицы или дороги. Все цепи на этой стороне имеют нечетную порядковую нумерацию, а на противоположной - четную, а счет цепей ведется сверху вниз. [48]
В интервале температур обработки до 2000 С профиль линии ( 002) сильно асимметричен, с явно выраженным максимумом со стороны больших углов дифракции и соответствует высокосовершенной компоненте природного графита, текстуру которой в основном измеряют. В области малых углов начинается второй размытый максимум от низкосовершенной структуры второго компонента - полукокса. Графического разделения линий на две структурные составляющие не производили, поэтому вычисленный показатель текстуры по суммарной кривой распределения в большей степени зависит от вклада каждой составляющей, чем от температуры обработки. Кажущееся уменьшение показателя текстуры в интервале температур 2000 - 2300 С, как это видно из данных табл. 5, есть результат перемещения в сторону меньших углов и уплотнения интенсивности всего кольца ( 002) вследствие активного формирования графитовой структуры полукокса; зависимости К и п от температуры обработки идентичны. [49]
Исполнительные чертежи ( представляют собой план и профиль линии, выполненные на основании геодезической съемки построенного трубопровода. [50]
С уменьшением Ъ снижается интенсивность в пике профиля линии, происходят сдвиг максимума и рост ширины профиля; минимальное значение последней не может быть меньше лг. [51]
Это уравнение решается с помощью измерения интенсивности вдоль профиля линии: выбирается точка 2 fti вблизи края линии, где i - и а2 - компоненты не перекрываются. [52]
Дсо со, e ( ow, i) профиль линии хорошо аппроксимируется при использовании ионного статического микроскопического поля. [53]
С ростом энергии ( или импульса) электронов ширина профиля линии ( AFoi, АУ02, АУ03 и т - Д -) растет. Это следует, например, из того, что при определенном значении магнитной индукции радиус траектории электрона в спектрографе увеличивается пропорционально его импульсу, ширина линии изображения точечного источника, обусловленная сферической аберрацией, также пропорциональна радиусу. [54]
Регистрируется спектр флуоресценции при частотном сканировании лазером в пределах доплеровского профиля линии поглощения. В результате проекцией Д ( р) / Др, п) является доплеровский профиль линии, причем р A AvD, где Я - длина волны, a AvB - доплеровский сдвиг. [55]
![]() |
Профили линия, образующихся в расширяющейся среде. [56] |
Основной эффект неравномерного расширения среды заключается в том, что профили линий получаются несимметричными. На рис. 11 представлены ненормированные профили интенсивности выходящего излучения / ( ж), рассчитанные в [14] для модели солнечной вспышки. [57]
Сложные топографические условия западных районов магистрали приводят к необходимости проектировать профиль линии с затяжными уклонами до 18 % о - Следуя под уклон, поезда на таких элементах профиля будут реализовывать максимально допустимые скорости, и возникающие при этом большие силы угона потребуют самого тщательного содержания противоугоиов. [58]
Систематические ошибки: а) субъективные ошибки измерения кривизны и профиля линий на рентгенограмме, связанные с различием положений центра тяжести и максимума линии, точечностью линии, смещением соседних линий ( наложением кривых интенсивности); б) ошибки аппаратуры: износ и старение аппаратуры, влияние конструкции и метода съемки, однородное или неоднородное сжатие пленки, эксцентриситет образца, кривизна пленки, неточность фокусировки, связанная с формой и расположением образующей, положение экватора пленки, наклон первичного пучка лучей, аксиальное и экваториальное расхождение пучка лучей, высота образца ( наложение конусов интерференции), точность угловых измерений, сдвиг счетчика, регистрация импульсов, поглощение или пропускание лучей образцом, температура образца, преломление рентгеновских лучей в образце; в) ошибки процесса измерения: неточные шкалы приборов, неточности в угловых экстраполяционных функциях, зависимость поправки на преломление от состояния кристаллов, неопределенность длины волны, асимметрия спектральных линий, неточность абсолютного значения Х - единицы или ангстрема. [59]
Кроме того, неравномерное освещение объектной щели приводит к искажению профиля линий. Подобный эффект в принципе можно скорректировать для каждого случая отдельно измерением полного профиля линий на фотопластинке. На практике такая коррекция очень трудоемка, значительно проще предотвратить появление таких искажений. [60]