Cтраница 2
Как известно, именно при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы была впервые обнаружена дифракция рентгеновских лучей ( Лауэ, 1912 г.), окончательно доказавшая тождество их природы со светом. [16]
Цилиндрический реакционный сосуд, имеющий секториальные вырезы для прохождения рентгеновских лучей, помещают в герметизированный корпус приставки. Внутрь корпуса под небольшим давлением подают инертный газ. Инертный газ может выходить из приставки только через вырезы в реакционном сосуде и трубку для отвода газов. Создающийся таким образом поток инертного газа выносит через внутренний объем реакционного сосуда газообразные продукты реакции и препятствует их попаданию внутрь корпуса. [17]
Глубина залегания порока и его размеры в направлении прохождения рентгеновских лучей записываются в заключении в мм, если имеется возможность и необходимость их определения. [18]
Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными ( не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения, диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные типы рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [19]
Теория решетчатого строения кристаллов экспериментально подтвердилась при изучении явлений прохождения рентгеновских лучей через кристаллы. [20]
Принцип ренггевоструктурного анализа основан на том, что при прохождении рентгеновских лучей через кристалл ( кристаллическую решетку) происходит интерференция лучей, в результате которой на фотопластинке, воспринимающей пучок отраженных решеткой лучей, возникают линии или пятна. [21]
В 1912 г. Лауэ сумел показать, что при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы происходит их интерференция, вызванная дифракцией. Тем самым было доказано, что кристаллы в соответствии с развивавшимися ранее представлениями обладают решетчатой тонкой структурой. Одновременно было окончательно установлено, что рентгеновские лучи имеют такую же природу, как и световые волны, и отличаются от последних только значительно меньшими длинами волн. [22]
На рис. 62 приведена фотография дифракционной картины, полученной при прохождении рентгеновских лучей через узкую щель. Эти опыты очень трудны, так как вследствие малой длины волны щель должна быть очень узкой и фотографию, кроме того, приходится подвергать последующему увеличению для того, чтобы выявить светлые и темные полосы. Фотография, приведенная на рис. 62, была получена со щелью шириной в 6 мкм и подвергнута 26-кратному увеличению. [23]
Был создан ряд модификаций этих приборов, в которых использованы как прохождение рентгеновских лучей через почти совершенные кристаллы кремния и германия, так и их отражение. Наиболее простая схема показана на фиг. Три почти совершенных толстых кристалла расположены точно параллельно. Прошедший и дифрагированный пучки от первого кристалла вновь дифрагируют на втором кристалле, давая пучки, которые вместе идут к третьему кристаллу. Интерференция между этими пучками создает волновое поле, модулированное с периодичностью плоскостей решетки. Если решетка третьего кристалла представляет собой точное продолжение решетки первых двух, то максимумы интенсивности волнового поля будут совпадать с промежутками между атомными плоскостями и будет наблюдаться максимум прохождения. [24]
Такая структура каждого из двух полей имеет существенное значение в явлениях прохождения рентгеновских лучей в поглощающих кристаллах. Так как главным механизмом истинного поглощения рентгеновских лучей является фотоэлектрический эффект, поглощение существенно локализовано на атомах и, следовательно, на атомных плоскостях. Сильнее будет поглощаться то поле, которое имеет максимумы на атомных плоскостях. [25]
Трансляционная система кристалла играет определяющую роль в геометрии дифракционного эффекта, возникающего при прохождении рентгеновских лучей через кристалл. Параметры и другие характеристики решетки входят во все основные формулы рентгенострук-турного анализа. Поэтому следует познакомиться с некоторыми вспомогательными понятиями и обозначениями решетчатой кристаллографии. К таковым относятся понятия узловых рядов и узловых сеток и вспомогательный образ - обратная решетка. [26]
Несмотря на достаточно сложный характер этих выражений и трудность их качественного анализа, все же они ясно показывают одну замечательную черту явления прохождения рентгеновских лучей через совершенный поглощающий кристалл, а именно - эффект Бормана. [27]
Ионизационный метод основан на ионизирующем действии рентгеновского излучения на вещество. Прохождение рентгеновских лучей через вещество не сопровождается непосредственной ионизацией вещества, но при поглощении излучения атомы вещества испускают быстрые электроны, которые и вызывают ионизацию атомов и молекул вещества. [28]
Сцинтилляционный метод регистрации рентгеновского излучения основан на фиксации вспышек света ( сцинтилляций), возникающих в люминесцирующем кристалле - фосфоре ( сцинтилляторе) под действием излучения. Прохождение рентгеновских лучей через жидкие или твердые фосфоры сопровождается испусканием видимого или ультрафиолетового света. Один рентгеновский квант с энергией 50 кэВ, поглощенный в зерне фосфора, производит 2 - Ю3 квантов видимого света. [29]
Рентгеноструктурный анализ основан на применении рентгенографии. При прохождении рентгеновских лучей через тонкий слой вещества наблюдается дифракция и интерференция лучей. На фотопленке, расположенной за объектом перпендикулярно падающему лучу, получается рентгенограмма, на которой можно видеть интерференционные кольца и пятна вокруг центрального пятна от неотклоняющегося луча. Интерференционные кольца и пятна в случае высокомолекулярных веществ могут получаться от правильного чередования одинаковых звеньев молекул, отдельные составные части которых повторяются через определенное расстояние. Это расстояние между одинаковыми элементами соседних звеньев молекул носит название периода идентичности. Ширина интерференционных полос на рентгенограмме зависит от периода идентичности: чем меньше период идентичности, тем больше ширина кольца. Таким образом, по ширине колец может быть вычислен период идентичности. [30]