Cтраница 4
Наиболее известный метод определения структуры кристалла - рентгеновский. При прохождении рентгеновских лучей через кристаллическую решетку они испытывают дифракцию. [46]
Тепловое движение атомов твердого вещества выражается в колебаниях вокруг некоторых постоянных положений равновесия. Частота колебаний атомов значительно ниже, чем частота изменения напряженности поля в рентгеновском излучении. При прохождении рентгеновских лучей через кристалл в любой заданный момент времени атомы оказываются смещенными из положений равновесия в различных направлениях. Следовательно, вторичные волны, которые совпадали бы по фазе, если бы атомы находились в покое, в действительности не находятся точно в фазе друг с другом, и интенсивность дифрагированного луча должна уменьшаться. [47]
Нагреватель представляет собой керамическую трубу с сек-ториальными вырезами для прохода рентгеновских лучей, расположенную коаксиально реакционному сосуду. На его внутренней поверхности по образующим уложена в канавках нагревательная спираль. Нагреватель окружен двумя никелевыми отражательными экранами в форме стаканов с секториальными вырезами для прохождения рентгеновских лучей и отверстиями для реакционного сосуда. Секториальные окна для прохождения рентгеновских лучей в корпусе герметизируются бериллиевой фольгой. [48]
Рентгеновские лучи знакомы всем - ими просвечивают, если вы сломали ногу или заболели воспалением легких. Расстояние между атомами в молекулах и кристаллах имеет тот же масштаб. Это обстоятельство навело немецкого физика Макса фон Лауэ на мысль, что при прохождении рентгеновских лучей через кристалл, в котором атомы расположены строго регулярно, должна возникать дифракционная картина, подобная той, которая наблюдается при прохождении видимого света сквозь дифракционную решетку. [49]
Рентгенографический контроль качества сварных соединений основан на способности рентгеновских лучей проходить через сварные соединения как через полупрозрачные тела, причем интенсивность их падает по мере увеличения толщины металла. Прохождение лучей фиксируется рентгенографической пленкой. В местах дефектов швов ( непроваров, шлаковых или газовых включений, пор) общий путь прохождения рентгеновских лучей через металл сокращается и, следовательно, интенсивность их возрастает, что и фиксируется на пленке. [50]
Понятно поэтому, что изложение основ рентгено-структурного анализа кристаллов немыслимо без предварительного ознакомления с некоторыми понятиями, представлениями и обозначениями, принятыми в структурной кристаллографии, и в первую очередь в теории симметрии кристаллов. В задачу автора отнюдь не входит последовательное изложение всех основ теории симметрии. Рассматриваются лишь те ее аспекты, которые абсолютно необходимы для понимания особенностей дифракционных эффектов, возникающих при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы, и для правильного ( грамотного) описания самой структуры кристалла. [51]