Прохождение - рентгеновские лучей
Cтраница 3
Рентгеноструктурный анализ основан на применении рентгенографии. При прохождении рентгеновских лучей через тонкий слой вещества наблюдается дифракция и интерференция лучей. На фотопленке, расположенной за объектом перпендикулярно падающему лучу, получается рентгенограмма, на которой можно видеть интерференционные кольца и пятна вокруг центрального пятна от неотклоняющегося луча. Интерференционные кольца и пятна в случае высокомолекулярных г. еществ могут получаться от правильного чередования одинаковых звеньев молекул, отдельные составные части которых повторяются через определенное расстояние. Это расстояние между одинаковыми элементами соседних звеньев молекул носит название периода идентичности. [31]
 |
Рентгеновская трубка. 1 - катод, 2 - ан - [ IMAGE ] Снимок рентге-тикатод, 3 - анод. невскими лучами. [32] |
Рентгеновские лучи проходят почти беспрепятственно через стекло, картон, ткань, дерево, а также через тела животных и человека. При прохождении рентгеновских лучей через тела происходит их частичное поглощение, причем менее плотные части тела поглощают их в меньшей степени, чем более плотные. На этом явлении и основано применение этих лучей при просвечивании непрозрачных тел. [33]
 |
Нормы просвечивания сварных швов. [34] |
Экраны кладут на фотопленку с двух сторон. При прохождении рентгеновских лучей люминесцирующий слой экрана начинает светиться, что ускоряет процесс фиксации изображения, так как на пленку воздействуют не только собственно рентгеновские лучи, но и лучи от свечения экранов. Усиливающее воздействие свинцовой или оловянной фольги обусловливается фотоэлектронами, освобождающимися кз фольги под действием рентгеновских лучей. [35]
Этим свойством свинцовых стекол пользуются для предохранения от рентгеновского излучения при работе на рентгеновских установках. При прохождении рентгеновских лучей сквозь вещество их интенсивность уменьшается вследствие истинного поглощения и рассеяния. [36]
Как известно ( рис. 16), в каждом кристалле имеются равно отстоящие друг от друга и одинаково заполненные частицами параллельные плоскости. При прохождении рентгеновских лучей через кристалл происходит интерференция их. [37]
Долгое время не существовало метода для определения абсолютной, или реальной, конфигурации асимметрических атомов оптически активной молекулы. Картины интерференции, полученные при прохождении рентгеновских лучей через изомеры () и ( -) любого вещества, тождественны. Однако если произвести фазовое запоздание при дифракции некоторых атомов за счет их возбуждения рентгеновскими лучами подходящей длины волны, то интенсивности дифракций, наблюдаемых у двух исследуемых антиподов, уже не тождественны и, таким образом, становится возможным их различить. При этом установлено, что правовращающая винная кислота обладает в действительности конфигурацией, тождественной условной конфигурации, давно применяемой в стереохимии и изображенной приведенными ниже формулами. [38]
На рис. 69.3 изображены фотографии дифракционной картины при прохождении рентгеновских лучей ( слева) и пучка электронов ( справа) сквозь тонкие пленки одного и того же вещества. Используя этот метод, Томсон определил по формуле (69.4) длину волны де - Бройля и далее, по известным соотношениям для дифракции на трехмерных структурах, нашел периоды кристаллических решеток металлов, сквозь которые пропускались электроны. [39]
Если рассеивающий материал кристаллический и падающее излучение имеет длину волны такого же порядка, как расстояние между атомами, рассеяние будет происходить в некотором определенном направлении. Именно такое положение осуществляется, конечно, при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы. [40]
Во многих случаях их строение, определенное из опытов по прохождению рентгеновских лучей через кристаллы, согласуется по своему пространственному расположению с формой самого природного кристалла. Углы между разными гранями кристалла согласуются с точностью не до градусов, а до секунд дуги с углами, высчитанными в предположении, что кристалл сложен из множества слоев атомов. [41]
Дифракционные методы и прежде всего - методы рентгеновской дифракции такую возможность создают. Уже давно, как отмечалось выше, используют анализ рентгеновских рефлексов - дифракционных пиков при прохождении рентгеновских лучей сквозь решетку из атомов ( кристаллическую решетку) - для определения координат атомов. В последние годы стремительно развивается и совершенствуется техника этого анализа, приводящая в конце концов к визуализации атомно-молекулярной структуры. [42]
Прорезь нагревателя расположена в плоскости фокального круга таким образом, что как падающие, так и отраженные рентгеновские лучи проходят через прорезь. Нагреватель окружен целым рядом концентрических радиационных экранов 5, в которых также имеются прорези 9 для прохождения рентгеновских лучей. Экранирование теплового излучения 7 предусмотрено также над нагревателем и под ним, а вольфрамовые радиационные экраны 4 укреплены на прутках держателя образца внутри нагревателя. [43]
Интерференционное рассеяние в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через макроскопические кристаллы и характеризуется наличием под различными ( не малыми) углами рассеяния резких интерференционных максимумов. В противоположность интерференционному рассеянию, обусловленному строгой периодичностью структуры рассеивающего объекта и имеющего характер селективного отражения, диффракционное рассеяние рентгеновских лучей обусловлено отсутствием периодичности в структуре рассеивающего объема и в наиболее чистом виде проявляется при прохождении рентгеновских лучей через одноатомные газы. Для диффракционного рассеяния характерно наличие только одного интерференционного максимума, приходящегося на нулевой угол рассеяния, тогда как картина интерференционного рассеяния характеризуется большим числом интерференционных максимумов симметричной формы, расположенных под резличными конечными углами рассеяния. Сопоставляя указанные типы рассеяния рентгеновских лучей с аналогичными явлениями для видимого света, можно сказать, что интерференционное рассеяние рентгеновских лучей подобно интерференционному рассению света диффракционной решеткой, а диффракционное рассеяние подобно диффз зному рассеянию света туманами и мелкой пылью. [44]
Ксерографическая пластина состоит из токопрово-дящей алюминиевой или латунной подложки, на которую с одной стороны наносят тонкий слой из полупроводникового материала, например, селена. При прохождении рентгеновских лучей в зависимости от интенсивности выходящего из объекта контроля пучка изменяются параметры электрического поля пластины. Тем самым на пластине образуется скрытое электростатическое изображение объекта. При проявлении скрытого изображения красящими порошками на основе окиси цинка, мела и других формируется видимое изображение. При наложении на пластину бумаги изображение фиксируется на ней. Промышленностью выпускаются рентгеновские установки с ксерографическим изображением результатов контроля и перенесения отпечатка на бумагу ( Эренг-2 и др.) Производительность контроля значительно повышается, однако чувствительность контроля несколько ниже, чем при рентгенографии. [45]
Страницы: 1 2 3 4