Процесс - нанесение - пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Третий закон Вселенной. Существует два типа грязи: темная, которая пристает к светлым объектам и светлая, которая пристает к темным объектам. Законы Мерфи (еще...)

Процесс - нанесение - пленка

Cтраница 2


Газовыделение из стенок и других поверхностей рабочей камеры значительно снижается предварительным их прогреванием, в результате которого поглощенные системой газы десорбируются, откачиваются и тем самым устраняется следующее постепенное их выделение в процессе нанесения пленок. Это позволяет повысить предельный вакуум.  [16]

При выборе типа вакуумной установки с насосами предварительного и окончательного разрежения принимаются во внимание скорость откачки воздуха из камеры напыления и быстрота удаления газов, выделяемых источником испарения и другими деталями установки в процессе нанесения пленки, а также чистота разреженного пространства камеры напыления.  [17]

В работе Да Сильва и Миллера исследован процесс получения тонких пленок полибутадиена методом тлеющего разряда. Процесс нанесения пленки состоит из введения в вакуумную камеру газообразного мономера с последующей полимеризацией его на антикатоде.  [18]

Этот метод позволяет получить конфигурацию элементов любой сложности и имеет большую точность по сравнению с масочным, однако он более сложен, так как включает ряд прецизионных операций. При использовании фотолитографии процессы нанесения пленок и формирование конфигураций пленочных элементов во времени разделены.  [19]

При таком способе одновременно с процессом нанесения пленки на поверхность происходит ее обезвоживание. Способ электрофореза особенно пригоден и экономичен для автоматической окраски большого числа изделий при серийном производстве.  [20]

21 Вид записи на диаграммной ленте самописца сигнала от оптического датчика толщины, приведенного на 56.| Блок-схема устройства автоматического контроля толщины с использованием оптического датчик. [21]

Непрерывная запись показаний фотоэлемента позволяет непрерывно контролировать толщину пленки. Измерительная система позволяет легко производить автоматическую остановку процесса нанесения пленки в момент достижения предварительно выбранного минимума.  [22]

Наряду с упомянутыми методами известно также разложение моно-силана в вакууме, протекающее в широком интервале температур, начиная от 600 С и выше, использованное Джойсом с сотрудниками для получения гомоэпитаксиальных пленок кремния. Этот метод, где подложка содержится в вакууме в процессе нанесения пленки из пара низкого давления ( порядка единиц торр), способствует большей чистоте пленки и производительнее в силу непрерывной откачки продуктов реакции от поверхности, так как скорость диффузии реагента к фронту гетерогенной реакции не является, как в обычных, газотранспортных методах, фактором, лимитирующим процесс роста. Метод прост и надежно контролируется.  [23]

Различный химический состав осаждаемых материалов и разнообразные способы, применяемые для их нагрева и испарения, а также широкий диапазон требуемой скорости осаждения и заданной толщины тонкопленочных слоев вызывают необходимость использовать методы измерения, основанные на различных физических принципах. Распространение находят в основном методы, позволяющие производить контроль в процессе нанесения пленки.  [24]

Это объясняется необходимостью более сильной электронной бомбардировки кремния, а также и тем, что образующиеся пленки SiOz примерно в 4 раза более проницаемы для электронов. Ввиду того, что в процессе катодного распыления детали сильно разогреваются, процесс нанесения пленок приходится производить с периодическим охлаждением деталей.  [25]

26 Спектральные кривые пропускания и отражения стекла. [26]

Все указанные окислы прозрачны для видимой и ИК областей спектра и поэтому могут использоваться для просветления деталей из стекол, кристаллов и других оптических материалов. Выбор веществ при трехслойном просветлении определяется границей прозрачности отдельных окислов и технологическими особенностями процесса нанесения пленок.  [27]

Многие технологические процессы, объединяемые сейчас названием толстопленочная технология, продолжительное время использовались для нанесения металлизации на керамику при изготовлении катушек индуктивности, керамических конденсаторов и других высококачественных радиоэлементов. Толстопленочная технология широко применялась также при изготовлении элементов микромодулей, в частности микромодулей этажерочной конструкции. Здесь находили применение процессы нанесения пленок вжиганием из паст проводящих, резистивных и диэлектрических слоев.  [28]

В технологии тонкопленочных микросхем используется дорогостоящее вакуумное оборудование. Сам технологический процесс более трудоемкий. Однако высокая чистота процесса нанесения пленок в вакууме и возможность контроля всех критических параметров процесса определяют перспективность тонкопленочной технологии для большинства прецизионных схем приборостроительной промышленности.  [29]

Это относится равным образом как к пленкам, получаемым термическим испарением в вакууме [255], так и к тем, которые получаются различными химическими методами. Поэтому в настоящее время для получения пленок разработана и сконструирована вакуумная аппаратура с металлическими колпаками, допускающими испарение при 300 - 400 С. Повышение температуры в процессе нанесения пленок приводит и к возможности получения более толстых пленок.  [30]



Страницы:      1    2    3