Сфокусированный пучок - электрон
Cтраница 1
 |
Эмиссия ионов на чистом вольфраме. [1] |
Сфокусированный пучок электронов, отклоняемый магнитным полем, сканируют по поверхности, подобно пучку электронов, пробегающему последовательно строчки на экране телевизионной трубки. Этот весьма эффективный метод дает рельефные изображения выступов и впадин твердой поверхности с - разрешающей способностью до 5 им. Оже-спектроскопия применяется для изучения состава поверхностного / слоя, обычно совместно с ДМЭ, и позволяет исследовать кинетику процессов v адсорбции и десорбции. Автоэлектронная ( АЭМ) и автоионная ( АИМ) микроскопии приобрели за последние годы большое значение для исследования структуры поверхностей. Принцип методов заключается в создании поля очень высокой иапря5кениости ( 109 В / см) между полированным металлическим острием и флуоресцентным экраном. Такие поля вырывают электроны ( АЭМ) из атомов, составляющих острие, посылая их радиально к экрану; в методе АИМ на острие подается положительный заряд и приближающаяся молекула газа ( обычно Не, находящийся в сверхвысоковакуумной камере) ионизируется и посылается на экран. [2]
Сфокусированный пучок электронов отклоняют с помощью магнита и сканируют по поверхности образца, подобно пучку электронов, пробегающему строку за строкой на экране телевизионной трубки. [3]
Сфокусированный пучок электронов, отклоняемый магнитным полем, сканируют по поверхности, подобно пучку электронов, пробегающему последовательно строчки на экране телевизионной трубки. Этот весьма эффективный метод дает рельефные изображения выступов и впадин твердой поверхности с разрешающей способностью до 5 нм. [4]
Сфокусированный пучок электронов, отклоняемый магнитным полем, сканируют по поверхности, подобно пучку электронов, пробегающему последовательно строчки на экране телевизионной трубки. Этот весьма эффективный метод дает рельефные изображения выступов и впадин твердой поверхности с разрешающей способностью до 5 нм. [5]
Для бомбардировки служит сфокусированный пучок электронов или пучок положит, или отрицат. [7]
В методе СЭМ тонко сфокусированный пучок электронов направляется в точку на поверхности образца. Взаимодействие между электронами и твердым телом порождает множество сигналов, каждый из которых в принципе можно зарегистрировать и усилить. Суммарный сигнал управляет яркостью электронно-лучевой трубки. Для визуальной индикации рельефа исследуемой поверхности электронный пучок, с которым синхронизована развертка электронно-лучевой трубки, сканирует всю поверхность. [8]
Работа ЭЛТ основана на создании управляемого сфокусированного пучка электронов, воздействующего на покрытый люминофорным веществом экран и вызывающего свечение отдельных его участков. Конструктивные различия трубок и специфика их использования определяются способами управления лучом, конфигурацией электродов трубки и свойствами люминофора. В литературе описано множество других типов электронно-лучевых приборов [1.12], однако в технике отображения информации они либо выполняют узко специальные функции, либо слишком сложные для широкого применения. [9]
Электроннолучевая трубка служит для получения узкого сфокусированного пучка электронов; все остальные части прибора предназначены для питания и регулировки этой трубки. [10]
Электронно-лучевая трубка служит для получения узкого сфокусированного пучка электронов; все остальные части прибора предназначены для питания и регулировки этой трубки. [11]
Электронно-лучевые методы основаны на использовании остро сфокусированного пучка электронов. Резкое торможение электронного пучка при соударении с обрабатываемой поверхностью приводит к выделению в точке соприкосновения значительного количества тепла, нагревающего, плавящего или испаряющего любые материалы. [12]
Электронно-лучевая трубка дает возможность получить узкий, сфокусированный пучок электронов. [13]
Электронно-лучевая обработка основана на использовании кинетической энергии сфокусированного пучка электронов. Большие скорости электронам сообщают с помощью высоких ускоряющих напряжений в среде, имеющей достаточный вакуум. Сущность процесса состоит в испарении вещества из зоны касания электронного луча. [14]
 |
Схема трансформатора волны. [15] |
Страницы: 1 2 3 4