Cтраница 4
В результате кристаллизации быстро затвердевающих аморфных алюминиевых сплавов Al-Cr-Ce-M ( M-Fe, Co, Ni, Си), с содержанием более 92 ат. В качестве примера на рис. 2.4 показана микрофотография быстро затвердевающего сплава Alg4 5Cr3CeiCoi55 с дисперсными выделениями икосаэдрической фазы и снятые с некоторых участков сплава электронограммы. Интересно, что вид электронограм-мы дисперсной фазы зависит от величины участка, на котором происходит дифракция точно сфокусированного пучка электронов. [46]
Экспериментальные установки обычно сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5 - 10 нм. [47]
Экспериментальные установки обычно сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5 - 10 нм. [48]
В измерительной технике прибор с электроннолучевой трубкой для наблюдения электрических процессов называется осциллоскопом. Если такой прибор имеет устройство для фотографирования изображения, получаемого на экране, то он называется электронным осциллографом. В большинстве случаев такое разделение на практике не соблюдается, термином осциллоскоп почти не пользуются. Основным преимуществом электроннолучевой трубки по сравнению с другими приборами для исследования электрических процессов является почти полная безинерционность ее работы, так как электроны обладают очень малой массой. Можно очень быстро изменять направление сфокусированного пучка электронов с минимальной затратой энергии даже при очень больших скоростях электронов. [49]