Прямой пучок

Cтраница 4

Плотность раствора, закачиваемого в скважину, измеряется модернизированным радиоактивным плотномером ПЖР-2М, работа которого основана на поглощении прямого пучка у-излучения при прохождении им слоя жидкости. Плотномер, установленный в приборной линии блока манифольда, состоит из источника радиоактивного излучения цезия-137, участка трубопровода и приемника. [46]

В оптических схемах приборов Гакера [266, 267] и в первой схеме Лактионова [90] применяется темнопольное освещение, исключающее попадание прямого пучка света на приемник. В этих схемах для увеличения собираемого светового потока поставлено эллипсоидальное зеркало, которое повышает чувствительность прибора. [47]

Бормана) в тех областях кристалла, где смещение атомов имеет компоненту, перпендикулярную отражающим плоскостям; уменьшение интенсивности прямого пучка можно также связать с увеличением интенсивности дифрагированных лучей для тех же областей кристалла за счет того, что в искаженных областях ослабляется эффект первичной экстинк-ции, и интенсивность дифрагированных лучей в соответствии с кинематической теорией становится пропорциональной квадрату числа ячеек ( N2), а не первой степени, как это получается в динамической теории для неискаженных областей кристалла. В зависимости от конкретных условий может действовать тот или иной механизм. [48]

Гейгера в том виде, как это было описано выше, не позволяют производить измерений в непосредственной близости от прямого пучка из-за попадания последнего на пленку. Применение поглотителей очень громоздко даже при работе с монохроматическим излучением и регистрации на пленке; в случае же присутствия белого излучения оно становится безнадежным. Однако во многих случаях для возможно более полного анализа очень важно регистрировать рассеянное излучение вплоть до самых малых углов, приближающихся к нулю. [49]

Принципиальная схема прибора ЭПИД. [50]

Для защиты обслуживающего персонала от вредного влияния Y-лучей ампула помещена в свинцовый и стальной кожухи с отверстием для вывода прямого пучка лучей. [51]

Фокус кривой второго порядка есть центр пачка, обладающего тем свойством что полюс любой его прямой принадлежит перпендикулярной к ней прямой пучка. [52]

Наконец, развитие отраженного лазерного излучения в усилителях может быть подавлено, если запасенная в них энергия эффективно используется для усиления прямого пучка. В неодимовых лазерах это возможно. [53]

Измерения проводятся в фокальной плоскости приемной линзы малоуглового фотометра ( рис. 14, а) за пределами пятна, в котором собран прямой пучок световых лучей. Часть прибора левее диафрагмы 6 обеспечивает параллельный монохроматический пучок света, она может быть заменена оптическим квантовым генератором. Свет, рассеянный под данным углом р, регистрируют фотоумножителем, который перемещается в фокальной плоскости 8 по радиусу от центра к периферии. Поскольку освещенность в фокальной области на каждый градус угла р изменяется примерно на один порядок в фотометрической схеме, целесообразно применять нейтральные светофильтры. [54]

Если прямые пучка вещественны и различны, кривая имеет дв е ветви, пересекающиеся в начале координат и касательные соответственно к каждой прямой пучка ( черт. [55]

Два типа электронно-микроскопического дифракционного контраста в изображении кристаллического объекта. [56]

Таким образом, распределение яркости в электронно-микроскопическом изображении объекта в светлом поле задается распределением интенсивности электронов, покидающих нижнюю поверхность объекта в направлении прямого пучка. [57]

Метод дифракционного контраста основан на том, что электронные лучи, дифрагированные на дефектах, не потгадают в отверстие апертурнои диафрагмы, тогда как прямой пучок проходит через него. Это дает изображение в светлом поле. Если же в плоскость изображения попадают только дифрагированные лучи, а прямые лучи ее не достигают ( это достигается смещением апертурнои диафрагмы), то такое изображение называют темнопольным. Контуры включения избыточных фаз при изучении тонких пленок выявляются достаточно четко из-за изменения условий дифракции, а также из-за интерференционного эффекта и скопления дефектов на границах. [58]

Метод дифракционного контраста основан на том, что электронные лучи, дифрагированные на дефектах, не попадают в отверстие апертурной диафрагмы, тогда как прямой пучок проходит через него. Это дает изображение в светлом поле. Если же в плоскость изображения попадают только дифрагированные лучи, а прямые лучи ее не достигают ( это достигается смещением апертурной диафрагмы), то такое изображение называют темнопольным. Контуры включения избыточных фаз при изучении тонких пленок выявляются достаточно четко из-за изменения условий дифракции, а также из-за интерференционного эффекта и скопления дефектов на границах. [59]

Страницы: 1 2 3 4