Cтраница 1
Разность почернений ( gHc - gHB) на участке между точками С и В называют фотографической широтой фотослоя. Она зависит от контрастности фотопластинок. В свою очередь, с увеличением времени проявления контрастность сначала быстро растет и затем, достигнув некоторого значения, почти не изменяется, вуаль же продолжает непрерывно расти. Коэффициент контрастности зависит и от длины волны. В области 250 - 300 нм у пластинок типа I и II коэффициент контрастности изменяется незначительно, но для разных участков спектра его определяют отдельно. [1]
![]() |
Сравнительные результаты анализа бора. [2] |
Разность почернения двух линий определяется как логарифм отклонений di и uf2 зайчика гальванометра. [3]
![]() |
Влияние содержания фтористого лития на почернение линий хрома и фона S. [4] |
Разность почернений при концентрации буфера 75 % снижается. Суммарное почернение линии Сг 4254 33 А и фона также повышается. Но интенсивность фона вначале снижается с увеличением содержания буфера, а затем стабилизируется. В результате разность почернений не снижается. [5]
ДЗ - разность почернений аналитических линий, с - концентрация, у - фактор контрастности фотопластинки, Ъ и а - параметры уравнения. [6]
Обычно измеряют разность почернений линий аналитической пары и полученную величину откладывают по оси ординат, а по оси абсцисс - логарифм концентрации определяемого элемента в эталонах. [7]
![]() |
Форма записи результатов наблюдений. [8] |
Далее, измерив разность почернений тех же линий в спектре анализируемого образца, по градуировочной кривой находят lg С и вычисляют содержание компонента в сплаве. [9]
После фотометрирования находят разности почернений ли ний примеси и линии сравнения или близлежащего фона как Е эталонах, так и в анализируемых образцах. [10]
Далее, измерив разность почернений тех же линий в спектре анализируемого образца по калибровочной прямой находят lg С и вычисляют содержание компонента в сплаве. [11]
![]() |
Форма записи результатов наблюдений. [12] |
Далее, измерив разность почернений тех же линий в спектре анализируемого образца, по градуировочной кривой находят lg С и вычисляют содержание компонента в сплаве. [13]
Далее, измерив разность почернений тех же линий в спектре анализируемого образца по калибровочной прямой находят lg С и вычисляют содержание компонента в сплаве. [14]
После фотометрирования находят разности почернений линии примеси и линии сравнения как в эталонах, так и в анализируемых образцах. [15]