Регистрация - дифракционная картина
Cтраница 1
Регистрация дифракционной картины с применением в качестве детектора ионизационного или сцинтилляционного счетчика имеет ряд преимуществ по сравнению с фотографической регистрацией. [1]
 |
Классификация размеров элементарной ячейки. [2] |
Для регистрации дифракционной картины часто вместо вращения отдельного кристалла соединения более удобно исследовать порошкообразное вещество. При этом небольшие кристаллики вещества ориентированы случайно, так что всегда есть какие-то кристаллы, ориентированные под нужными углами к падающему лучу. [3]
Прибор для получения и регистрации дифракционных картин, возникающих при рассеянии ускоренных электронов веществом, называется электронографом, а сфотографированное изображение дифракционной картины - электронограммой. [4]
Здесь Lp - расстояние от объекта до плоскости регистрации дифракционной картины; / - расстояние между двумя симметричными относительно центра картины минимумами или максимумами. [5]
Электронограф - электровакуумный прибор, предназначенный для получения и регистрации дифракционной картины в результате рассеяния монохроматического потока электронов на струе пара исследуемого вещества. Магнитные линзы фокусируют электронный пучок на флуоресцентный экран, который устанавливается вблизи плоскости фотопластинки и убирается во время съемки. Впуск пара производится через сопло испарителя, напротив которого обычно монтируется ловушка для вымораживания этого пара. [6]
В этой главе рассмотрены технические характеристики рентгеновских аппаратов, предназначенных в основном для работы с рентгеновскими камерами и регистрации дифракционной картины на фотопленку. Такие аппараты включают в себя устройства для генерации рентгеновских лучей и приспособлены для установки рентгеновских камер. [7]
Конструктивные и схемные особенности другого подкласса атомно-физических анализаторов - аппаратов для рентгеноструктурного анализа - вытекают из назначения прибора - регистрации дифракционных картин взаимодействия рентгеновского излучения с веществом. [8]
С целью повышения точности и экспрессности используется монохроматическое излучение с длиной волны, соответствующей минимальному уровню фона от образца, регистрацию дифракционной картины производят в угловом диапазоне первого аморфного гало. В качестве параметра линии аморфного гало выбирают интегральную интенсивность Si линии и максимальную интенсивность If, аморфного гало под максимумом линии. [9]
Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга - Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи; при этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом. [10]
Техника исследований включает ряд методов, в числе которых метод Брэгга - Баррета, с помощью которого получают отображение расположенных вблизи поверхности слоев компактных кристаллов, и метод Ланга, применяемый для тонких кристаллов, через которые могут проникать характеристические рентгеновские лучи; цри этом представляется возможной регистрация дифракционной картины за кристаллом. [11]
 |
Схема рентгеносъемки по методу вращения ( а и рентгенограмма вращения монокристалла кварца вокруг оси с ( б. [12] |
В методе вращения кристалла используется монохроматическое излучение с фиксированной длиной волны К и кристалл, вращающийся вокруг одной из своих осей. Регистрация дифракционной картины в этом случае производится, как правило, на цилиндрическую фотопленку, ось которой совпадает с осью вращения кристалла. [13]
Ионизационный или сцинтилляционный метод предусматривает использование специальных устройств - гониометров. Регистрация дифракционной картины с применением в качестве детектора ионизационного или сцинтилляционного счетчика имеет ряд преимуществ по сравнению с фотографической регистрацией. [14]
Страницы: 1 2 3