Cтраница 3
При работе фотометодом информация об интенсивности дифракционного спектра содержится в почернении фотопленки, на которой зарегистрирована соответствующая дифракционная картина. При ионизационном способе регистрации дифракционного спектра его интенсивность может быть измерена непосредственно по числу квантов, рассеянных в данном направлении в единицу времени. Регистрация в этом случае осуществляется с помощью счетчиков квантов и позволяет избежать фотографической обработки пленки и измерений ее почернения. Все это сокращает время проведения рентгеновских измерений. Развитие и совершенствование электронной техники, в частности, создание новых счетчиков квантов, значительно повышает чувствительность ионизационных способов регистрации дифракционной картины. [31]
Существуют различные экспериментальные методы получения и регистрации дифракционной картины. В любом случае имеется источник рентгеновского излучения, система для выделения узкого пучка рентгеновских лучей, устройство для закрепления и ориентирования образца в пучке и приемник рассеянного образцом излучения. Приемником служит фотопленка, либо ионизационные или сцинтилляционные счетчики рентгеновских квантов. Метод регистрации с помощью счетчиков ( дифрактометрический) обеспечивает значительно более высокую точность определения интенсивности регистрируемого излучения. Из условия Вульфа-Брэгга ( см. Дифракция рентгеновских лучей) непосредственно следует, что при регистрации дифракционной картины один из двух входящих в него параметров - К ( длина волны) или 6 ( угол падения), должен быть переменным. [32]
Практическим применением теории, которая была создана на основе взглядов де Бройля, явилась электронная оптика. Разрешающая способность лучших современных микроскопов ограничивается длиной световой волны, которая лежит в пределах 0 8ч - 0 3 мкм. Электроны же, ускоренные разностью по-потенциалов всего в 100 в, имеют длину волны де Бройля около 1 А. Это позволяет создавать электронные микроскопы, которые имеют разрешение, превосходящее разрешение лучшего светового микроскопа в несколько сот раз. Принципиально разрешение электронного микроскопа могло бы превосходить разрешение светового микроскопа в сотни тысяч раз, так как длина волны де Бройля для электронов при разностях потенциалов в десятки тысяч вольт примерно в сотни тысяч раз короче длины световых волн. Однако в электронном микроскопе разрешение определяется не только явлениями дифракции, но и различными аберрациями электронных линз, которые формируют пучки электронов. Поэтому, например, просвечивающий электронный микроскоп 1-го класса имеет разрешение 5 - М О А, 2-го класса-12 - И5А и 3-го класса - ЗОч-ЮОА; эти микроскопы имеют ускоряющее напряжение соответственно 100, 60 - 80 и 40 - - 50 тыс. в. В принципе каждый электронный микроскоп может служить электронографом - прибором для получения и регистрации дифракционных картин, возникающих при рассеянии ускоренных электронов веществом. С помощью электронографии можно исследовать структуру веществ, определять положение легких атомов в присутствии тяжелых, изучать весьма мелкодисперсные объекты, исследовать строение молекул, находящихся в газообразном ( парообразном) состоянии, исследовать строение кристаллов и поверхностных слоев различных веществ. [33]