Прямая рекомбинация - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
В жизни всегда есть место подвигу. Надо только быть подальше от этого места. Законы Мерфи (еще...)

Прямая рекомбинация

Cтраница 3


31 Зависимость ширины запрещенной зоны твердого раствора GaAsi i Pt от х. [31]

Замена фосфора азотом приводит к получению примесных центров, которые захватывают электроны, что обеспечивает прямую рекомбинацию в полупроводниковых материалах с непрямой запрещенной зоной. Это дает возможность изготовления СИД с излучением желтого и зеленого цветов, эффективность которых имеет такой же порядок, как у красных СИД.  [32]

33 Модельное распределение плотности состояний в некристаллическом.| Спектры возбуждения ( J, фотолюминесценции ( 2 и поглощения ( 3 аморфной и кристаллической фазы As2Se3. Пунктирная кривая - спектр возбуждения, полученный экспериментально. сплошная кривая - участок спектра, соответствующий теории де Воре. штрихпунктирные линии - кристаллическая фаза. J - относительная интенсивность люминесценции. [33]

Далее происходит процесс термализации избыточных носителей [661] за счет испускания фононов, который более вероятен, чем прямая рекомбинация носителей противоположного знака. Избыточные носители, прежде чем произойдет рекомбинация, занимают область локализованных состояний. Такая решеточная релаксация ( рис. 119) служит причиной стоксовского сдвига полосы люминесценции относительно зонного края.  [34]

Механизмы рекомбинации, приводящие к восстановлению нарушенного термодинамического равновесия, можно разделить на три основные категории: а) прямая рекомбинация; б) рекомбинация через центры захвата; в) поверхностная рекомбинация.  [35]

Относительная важность различных механизмов рекомбинации в значительной степени зависит от отношения ширины запрещенной зоны к тепловой энергии kT и от концентрации дефектов, создающих энергетические уровни в запрещенной зоне полупроводникового материала. Прямая рекомбинация играет существенную роль лишь в полупроводниках с малой запрещенной зоной и при достаточно высоких температурах. В полупроводниках с широкой запрещенной зоной преобладающим механизмом электронно-дырочной аннигиляции является последовательный захват электрона и дырки ловушкой.  [36]

Если частицы рекомбинируют в результате непосредственной встречи электрона и дырки, то такая рекомбинация называется прямой, или межзонной. Прямая рекомбинация играет основную роль в веществах с малой шириной запрещенной зоны порядка 0 2 - 0 3 зо и меньше.  [37]

Мы уже отмечали ранее, что при рекомбинации электронов и дырок существует вероятность излучения избыточной энергии в виде фотонов. Если происходит прямая рекомбинация, то длина волны рекомбинационного излучения будет соответствовать краю полосы поглощения, а если рекомбинация происходит через рекомбинацион-ные центры, то излучение будет наблюдаться при более длинных волнах.  [38]

Приводящая к люминесценции релаксация носителей в этих случаях описывается экспоненциальным законом. При достаточно высоких концентрациях свободных носителей может также происходить и прямая рекомбинация свободных электронов и дырок. Тогда следует ожидать, что вероятность перехода будет пропорциональна концентрации свободных носителей, что приведет к неэкспоненциальному характеру релаксации.  [39]

Особые механизмы безызлучательной релаксации имеют место в полупроводниках. Следует заметить, что при достаточно высоких концентрациях свободных носителей может также происходить и прямая рекомбинация свободных электронов и дырок. Для всех перечисленных выше случаев, за исключением прямой рекомбинации, релаксация носителей описывается экспоненциальным законом. В случае прямой рекомбинации следует ожидать, что вероятность перехода будет пропорциональна концентрации свободных носителей, а это и приводит к неэкспоненциальной релаксации.  [40]

41 Схема прямых ( о и непрямых ( б межзонных переходов. [41]

Различают прямые и непрямые переходы электронов из зоны в зону. Прямые переходы совершаются практически без изменения импульса ( рис. 1.22, а) и сопровождаются поглощением или выделением ( при прямой рекомбинации) фотона.  [42]

Различные причины могут повести к неполному использованию первичных продуктов взаимодействия с излучением. Например, ясно, что процесс окисления, вызываемый гидроксильными радикалами, во многих случаях может подавляться как в результате воздействия атомов водорода, так и в результате прямой рекомбинации ионов и радикалов.  [43]

Из (61.7) видно, что влияние электронов и дырок на изменение проводимости зависит от произведений bntn и bpip. Эти произведения могут отличаться в реальных сопротивлениях на несколько порядков как из-за потери подвижности носителями одного типа ( например, дырками), так и из-за большой разницы между т и тр, которые зависят от физической природы центров рекомбинации в кристаллах. Прямая рекомбинация свободных электрона и дырки без посредства центра рекомбинации имеет очень малую вероятность и может преобладать только при очень больших концентрациях свободных носителей. В этом случае, очевидно, тл тр.  [44]

Особые механизмы безызлучательной релаксации имеют место в полупроводниках. Следует заметить, что при достаточно высоких концентрациях свободных носителей может также происходить и прямая рекомбинация свободных электронов и дырок. Для всех перечисленных выше случаев, за исключением прямой рекомбинации, релаксация носителей описывается экспоненциальным законом. В случае прямой рекомбинации следует ожидать, что вероятность перехода будет пропорциональна концентрации свободных носителей, а это и приводит к неэкспоненциальной релаксации.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5