Испытуемый диод
Cтраница 1
 |
Камера тепла.| Камера холода. [1] |
Испытуемые диоды укреплены на кассете, установленной в нижней части камеры таким образом, что нижние выводы диодов плотно входят в специальные разъемы, соединенные с измерительной схемой. [2]
Испытуемые диоды расположены так же, как и в камере тепла. [3]
 |
Камера тепла. [4] |
Испытуемые диоды укреплены на кассете, установленной в нижней части камеры так, что нижние выводы диодов плотно входят в специальные разъемы, соединенные с измерительной схемой. [5]
Испытуемый диод подключают к зажимам э и к в соответствующей полярности. Для измерения прямого тока диода переключатель П3 должен быть замкнут, а при измерении обратного тока - разомкнут. [6]
 |
Схема для проверки выпрямительных диодов на обрыв и. [7] |
На испытуемый диод ИД подается постоянное напряжение от источника И. Если в диоде есть короткое замыкание, то падение напряжения на нем становится равным нулю. При этом срабатывает регистрирующее устройство РУ и включает сигнальную лампу СЛ. При обрыве в испытуемом диоде все напряжение источника И прикладывается к выводам диода, а падение напряжения на резисторе отсутствует. В этом случае также срабатывают регистрирующее устройство РУ и лампа СЛ. [8]
Через испытуемый диод ИД пропускают импульс переменного тока заданной величины от источника тока И. Длительность импульса задается дозатором времени ДВ. [9]
В исходном состоянии испытуемый диод проводит ток в прямом направлении; величина его определяется сопротивлением Ri. При подаче обратного напряжения возникает процесс, обусловленный накопленным зарядом неравновесных носителей. Время восстановления обратного сопротивления измеряется от момента подачи запирающего перепада напряжения до момента уменьшения обратного тока до заданного уровня. [10]
 |
Изображения переходного процесса в плоскостном диоде. [11] |
Нижняя полуволна напряжения обрезана испытуемым диодом. [12]
От генератора постоянного напряжения ГН на испытуемый диод ИД подается заданная величина обратного напряже-ния. Значение обратного напря-жения контролируется вольтметром ИН. [13]
Разница лишь в том, что на испытуемый диод подается обратное напряжение не 36 в, а соответствующее типу проверяемого диода. [14]
 |
Схема измерения добротности варикапа с величиной. [15] |
Страницы: 1 2 3 4