Спектр - проба
Cтраница 2
Спектр пробы содержит большое количество информации, при полной обработке и использовании которой можно существенно повысить чувствительность и точность анализа. Однако ручная обработка полученных данных представляет значительные трудности, так как затраты времени обычно несоизмеримо больше полученного эффекта. Кроме того, аналитик часто не располагает временем для полной обработки полученной информации, например при контроле за технологическим процессом, когда в течение нескольких минут нужно выдать результаты анализа. Применение вычислительной техники позволяет наиболее быстро и полно решать эти задачи. Использовать для подобных целей универсальные вычислительные машины нецелесообразно из-за их высокой стоимости и трудности ввода задания. [16]
Спектр пробы неизвестного состава фотографируется рядом со спектром железа, которым пользуются как шкалой длин волн. [17]
Фотографируют спектр пробы рядом со спектром меди, цинка или алюминия. Далее измеряют расстояние, на котором находится неизвестная линия от линии, принятой за нулевую, например линии меди 5218 А, линии цинка 4810 А или линии алюминия 3961 А, и по этим данным определяют длину волны неизвестной линии по дисперсионной кривой. [18]
 |
Открытие элементов методом сравнения. а-со спектром искомого элемента. б-со спектром железа. [19] |
Сравнивают спектры проб со спектрами эталонов. Если же аналитические линии искомого элемента будут обнаружены и в спектре проб и в спектре электродов, то окончательный ответ о наличии элемента в пробе можно дать, сравнивая их интенсивности в спектре пробы и электрода. [20]
Фотографируют спектр пробы рядом со спектром меди, цинка или алюминия. [21]
 |
Установление спектральных линий определенного элемента методом сравнения. [22] |
Сравнивают спектры проб со спектрами эталонов. Если же аналитические линии искомого элемента будут обнаружены и в спектре проб и в спектре электродов, то окончательный ответ о наличии элемента в пробе можно дать, сравнивая их интенсивности в спектре пробы и электрода. [23]
Фотографируют спектр пробы рядом со спектром меди, цинка или алюминия. Далее измеряют расстояние, на котором находится неизвестная линия, от линии, принятой за нулевую, например линии меди 5218 А, линии цинка 4810 А или линии алюминия 3961 А, и па этим данным определяют длину волны неизвестной линии по дисперсионной кривой. [24]
 |
Открытие элементов методом сравнения. а-со спектром искомого элемента. б-со спектром железа. [25] |
Сравнивают спектры проб со спектрами эталонов. Если же аналитические линии искомого элемента будут обнаружены и в спектре проб и в спектре электродов, то окончательный ответ о наличии элемента в пробе можно дать, сравнивая их интенсивности в спектре пробы и электрода. [26]
Фотографируют спектр пробы рядом со спектром меди, цинка или алюминия. [27]
 |
Установление спектральных линий определенного элемента методом сравнения. а-со спектром анализируемого элемента. 6 - со спектром. [28] |
Сравнивают спектры проб со спектрами эталонов. Если же аналитические линии искомого элемента будут обнаружены и в спектре проб и в спектре электродов, то окончательный ответ о наличии элемента в пробе можно дать, сравнивая их интенсивности в спектре пробы и электрода. [29]
Фотографирование спектров пробы и стандартов производят через трехступенчатый ослабитель ( при ступенях пропускания, равных приблизительно 100; 50; 10 %), что позволяет использовать при фотометрировании спектральные линии различной абсолютной интенсивности. [30]
Страницы: 1 2 3 4