Cтраница 1
Спектры эталонов и образцов фотографировались по 4 раза в оптимальных условиях, полученных после математического планирования эксперимента. С помощью этого метода было выяснено влияние трех факторов: расхода газа, состава газа, времени экспозиции на величину отношения интенсивности линии определяемого элемента к фону. В результате математического планирования были взяты следующие условия анализа пятиоки-си тантала: сила тока 15 и, навеска пятиокиси тантала 40 мг, разбавление пробы углем 4: 3 ( навеска угля 30 мг), время экспозиции 110 сек, расход газа 12 5 л / мин, состав газа 70 % аргона 30 % кислорода. [1]
Спектры эталонов и проб возбуждают генератором UBIT-1. [2]
Спектры эталонов фотографируются через 9-ступенчатый ослабитель ( см. Ступенчатый ослабитель с. Тогда спектральные линии на спектрограмме окажутся разбитыми на 9 ступенек различной плотности почернений. Можно использовать и 3-ступенчатый ослабитель, но небольшое число ступеней значительно затруднит условия фотометрирования и понизит точность анализа. С изменением концентрации примеси изменяются почернения ступенек линий примеси. Почернения линии внутреннего стандарта для разных этало-нов и соответствующих ступенек остаются постоянными. Это дает возможность измерять относительную интенсив-ность спектральных дней. [3]
Спектры эталонов и образцов фотографируют в двукратной повторное, обыскривание 60 с, продолжительность фотографирования 20 - 30 с в зависимости от чувствительности фотопластинок. [4]
Фотографируют спектры эталонов с различным содержанием определяемого элемента в строго одинаковых условиях, измеряют интенсивность почернений линий и строят градуировочный график. [5]
Фотографирование спектров эталонов и проб мышьяка производят при тех же условиях, что и в прямом методе анализа. Градуировочные графики для количественного определения Си, Fe, Р и Sb строят по тем же аналитическим линиям и в тех же координатах, что и в прямом методе. [6]
Из спектров эталонов создают шкалу, при помощи которой переходят от интенсивности линий к концентрации. [7]
Фотографирование спектров эталонов и проб мышьяка производят при тех же условиях, что и в прямом методе анализа. Градуировочные графики для количественного определения Си, Fe, Р и Sb строят по тем же аналитическим линиям и в тех же координатах, что и в прямом методе. [8]
Из спектров эталонов создают шкалу, при помощи которой переходят от интенсивности линий к концентрации. Если почернение Sx линии в спектре пробы равно почернению 8г этой же линии в спектре эталона, то тогда 1Х1 и поэтому СХ. [9]
По спектрам эталонов и проб находят разность почернений / л S / между аналитической линией и линией сравнения. [10]
По спектрам эталонов строят графики, которыми пользуются только для анализа определенных сплавов. С применением метода трех эталонов удается уменьшить ошибку анализа, которую вносят неконтролируемые медленные изменения характеристик генераторов и ряда других условий анализа, а также известная нестандартность фотопластинок. [11]
По спектрам эталонов строят градуировочный график, действительный только для проб, спектры которых фотографируются на той же фотопластинке. Практически обыкновенно спектро-графируют на пластинку не три эталона, а 4 - 5 и спектр каждого эталона снимают дважды, в разных местах фотопластинки. При пользовании этим способом полагают, что свойства фотопластинок ( главным образом у) меняются от пластинки к пластинке. [12]
По спектрам эталонов строят графики, которыми пользуются только для анализа определенных сплавов. С применением метода трех эталонов удается уменьшить ошибку анализа, которую вносят неконтролируемые медленные изменения характеристик генераторов и ряда других условий анализа, а также известная нестандартность фотопластинок. [13]
Перед фотографированием спектров эталонов и анализируемых образцов необходимо каждый раз в течение 10 с производить предварительный обжит электродов с тем, чтобы стабилизировалось соотношение интенсивностей линий аналитических пар. [14]
После фотографирования спектров эталонов и образцов в полученном спектре находят аналитическую пару линий и фотометрируют ее визуально с помощью спектропроектора. Выбирают не очень интенсивную по почернению линию определяемого элемента и сравнивают это почернение с линией основы. [15]