Спектр - эталон
Cтраница 3
 |
К методу фотометрического интерполирования. [31] |
Определив таким образом относительную интенсивность в спектре эталонов, можно построить постоянную аналитическую кривую, по которой определяется неизвестная концентрация сплава. [32]
На одной фотопластинке фотографируют по 3 раза спектры эталонов, холостых проб и образцов. [33]
На основании результатов фотометрирования указанных линий в спектрах эталонов строят градуировочный график в координатах: логарифм концентрации двуокиси гафния - разность почернения линий циркония и гафния. [34]
 |
Схема распылителя для анализа по спектру пламени. [35] |
На одну пластинку фотографируют спектр анализируемого образца и спектры эталонов. Определяют, как было указано выше, значение разности почернения линий аналитической пары в спектре каждого эталона ASi, А 2, ASs и значение ASa разности почернения линий аналитической пары в спектре исследуемой пробы. На одной оси координат наносят значение ASb A52, AS3, а на другой оси - значения логарифмов соответствующих концентраций С, С %, Сз - По полученным точкам строят калибровочный график, который имеет вид прямой. [36]
На одну пластинку фотографируют спектр анализируемого образца и спектры эталонов. Определяют, как было указано выше, значение разности почернений линий аналитической пары в спектре каждого эталона ASi, AS2, AS3 и значение Д5Х разности почернения линий аналитической пары в спектре исследуемой пробы. По полученным точкам строят калибровочный график, который имеет вид прямой. [37]
Оценка значения aaHmin производится по результатам многократной регистрации спектра эталона с минимальным содержанием определяемого элемента при условии, что аналитическая линия обнаруживается в каждом измерении. Под результатом измерения в этом случае понимается уже не разность отсчетов ( например, почернений, фототоков) в месте расположения аналитической линии и рядом с ней, а только один отсчет на месте аналитической линии либо разность ( отношение) между этим отсчетом и отсчетом для линии сравнения. В соответствующих координатах строится и градуировочный график. [38]
На основании результатов фотометрирования аналитических линий элементов-примесей в спектрах эталонов строят градуировочные графики для каждой определяемой примеси. Графики строят в параметрах: логарифм концентрации определяемого элемента - разность почернения линии и фона. [39]
На одну пластинку при строгом соблюдении условий съемки фотографируются спектры эталонов и анализируемых образцов. [40]
Оценка значения 0ан тш производится по результатам многократной регистрации спектра эталона с минимальным содержанием определяемого элемента при условии, что аналитическая линия обнаруживается в каждом измерении. Под результатом измерения в этом случае понимается уже не разность отсчетов ( например, почернений, фототоков) в месте расположения аналитической линии и рядом с ней, а только один отсчет на месте аналитической линии либо разность ( отношение) между этим отсчетом и отсчетом для линии сравнения. В соответствующих координатах строится и градуировочный график. [41]
Несмотря на хорошее соответствие между спектром анализируемого образца и спектром эталона, необходимо учитывать присутствие посторонних компонентов, которые из-за их малого содержания трудно определить. Кроме того, метод дифференциальной спектроскопии позволяет выделить полосы поглощения пластификатора в спектре пластифицированного полимера путем компенсации полос поглощения полимера. [42]
 |
Оптическая схема нерегистрирующего микрофотометра МФ-2. [43] |
Фотометрируют на микрофотометре пластинку, на которой рядом со спектрами эталонов засняты спектры анализируемых проб. По данным фотометрирования строят градуировочные графики и по ним определяют содержание элементов в пробе. [44]
Для получения характеристической кривой можно также на пластинку со спектрами эталонов и проб специально фотографировать отдельно через ступенчатый ослабитель спектр железа. Характеристическую кривую можно построить без ступенчатого ослабителя, применяя в качестве марок почернения группу спектральных линий железа с известными соотношениями интенсивностей. [45]
Страницы: 1 2 3 4