Дифракционный спектрометр - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Учти, знания половым путем не передаются. Законы Мерфи (еще...)

Дифракционный спектрометр

Cтраница 3


Две линии считаются разрешенными по Рэлею, когда первый минимум дифракционной картины одной из них совпадает с максимумом интенсивности соседней. Разрешающую способность дифракционных спектрометров часто оценивают по их способности разрешить ртутный дублет с длинами волн 3131 55 и 3131 83 А.  [31]

На ИСЗ Астрон, запущенном на высокоапогейную орбиту 23 марта 1983, был установлен УФ-телескоп системы Ричи - Кретьена с диаметром гл. В фокусе УФ-телескопа размещался роуландовский дифракционный спектрометр с последоват.  [32]

Так, мы различаем призменные и дифракционные спектрометры, вакуумные и невакуумные спектрометры, сканирующие спектрометры, приставки ( адаптеры) и спектрометры с фиксированными выходными щелями; спектрометры для исследовательских или производственных целей, для однотипных или различных задач; и наконец, специальные спектрометры и спектрометры, оборудованные интерферометром. Эти приборы можно коротко охарактеризовать следующим образом.  [33]

Спектрометры с фиксированной программой, предназначенные для заводов или контроля производства, пригодны только для решения определенных аналитических задач. Устройства такого типа представляют собой обычно дифракционные спектрометры с фиксированными приемниками света и жесткой конструкцией. Приборы, предназначенные для решения одной-единственной задачи, работают именно на таком принципе. В противоположность этому в комбинированные приборы заложено несколько основных принципов, которые можно реализовать независимо друг от друга, например все приборы оборудованы приемниками света.  [34]

Таким образом, разрешающая способность фурье-спектрометра определяется максимальной разностью хода, а спектральный предел разрешения пропорционален обратной величине максимальной разности хода. Эта величина намного превышает предел разрешения классических дифракционных спектрометров для указанной области спектра.  [35]

Выше было отмечено, что в дифракционных спектрометрах необходимо отделять друг от друга спектры различных порядков. Со времени появления первых дифракционных спектрометров это разделение осуществляется с помощью предварительных призмен-ных монохроматоров. Если дифракционные решетки в спектрометре работают IB невысоких порядках, например в первом или втором, то разрешающая способность приз-менного предварительного монохроматора может быть очень низкой, так как он нужен только, чтобы разделить соседние порядки. С ростом же порядка рабочий интервал ( область дисперсии) сужается. Если бы эту решетку нужно было использовать в пятом порядке, то шестой порядок, который отстоит от пятого только на 0 4 мк, пришлось бы отделять в области, где дисперсия материала призмы невелика. К тому же щель призменного монохроматора должна быть достаточно широкой, чтобы заполнить наиболее широкую щель монохроматора с дифракционной решеткой.  [36]

Таким образом, приборы, построенные на базе интерферометра, как и приборы с дифракционными решетками, являются спектрометрами, дающими последовательную запись спектра. Однако они обладают большей светосилой, чем дифракционные спектрометры, при равных разрешимых спектральных интервалах. Эти приборы пока используются главным образом в - инфракрасной и видимой областях спектра.  [37]

Спектральные приборы с пространственным разделением волновых чисел в большинстве случаев могут быть выполнены в одноканаль-ном н многоканальном вариантах. Это распространяется как на призменные, так и на дифракционные спектрометры, отличающиеся исходным принципом осуществления пространственного разделения, его степенью и, наконец, эксплуатационными возможностями; тем не менее они оказываются лишенными отличительных черт. Аналогичная картина наблюдается и с непрямыми методами, обладающими свойством мультиплексности ( адамар-спектрометры, фурье-спектрометры), заключающемся в одновременном приеме излучения, соответствующего многим спектральным интервалам, в кодированной форме одним приемником радиации.  [38]

Мы уже отмечали, что угловая дисперсия ц разрешающая способность интерферометра Ф - П значительно Пильни. Сравним теперь информационные способности интерферометра Ф - II и дифракционного спектрометра.  [39]

Для спектрометрии высокого и среднего разрешения в фокальной плоскости модулей предполагается устанавливать кристаллические и дифракционные спектрометры.  [40]

На основании первых экспериментов может возникнуть мнение, что возможно и желательно создание полностью автоматического регистрирующего КР-спектрометра, который позволял бы устанавливать и менять ориентацию образца и записывать поляризованный спектр как в графическом виде, так и в виде цифровых отсчетов, пригодных для обработки на электронно-вычислительной машине. Однако в данном случае проблема установки образца намного сложнее, чем для рентгеновского дифракционного спектрометра, и если даже оптически совершенные образцы удается выточить в виде сферы, то значительные трудности возникают из-за двойного лучепреломления в кристаллах низкой симметрии.  [41]

Величина / / / у используемых в настоящее время дифракционных приборов имеет порядок 1 / &0. Таким образом, величины световых потоков в интерферометрах на два порядка превосходят величины световых потоков в дифракционных спектрометрах. При эквивалентных геометрических параметрах и при заданном разрешении интерферометры имеют в отношении светосилы огромное преимущество перед спектрометрами с решеткой, которые в свою очередь более предпочтительны, чем призменные приборы.  [42]

Для измерения большинства линий твердотельных и полупроводниковых лазеров не требуется большей разрешающей силы, нежели та, которую обеспечивают существующие призменные и дифракционные спектрометры.  [43]

Выигрыш Фелжета заключается в следующем. В интерферометре за каждый малый интервал времени сканирования регистрируется информация сразу обо всем спектральном диапазоне, в то время как в обычном дифракционном спектрометре за то же время - информация только об узком спектральном интервале, который выделяется выходной щелью прибора.  [44]

Допустимый угловой размер источника в направлении, перпендикулярном плоскости дисперсии, рассчитывается с учетом тех же соображений, которые были использованы при определении допустимой угловой высоты щели в дифракционном спектрометре. При этом необходимо учесть, что дифрагированные волны, соответствующие длине волны настройки Ко, отклоняются в разные стороны от среднего угла распространения.  [45]



Страницы:      1    2    3    4