Способ - сканирование
Cтраница 2
В одно - и двухлучевом способах сканирования действуют одни и те же источники ошибок, но в двухлучевом способе удается получить значительно более низкий предел определения. На практике все эти условия трудно выполнить. Чаще всего наблюдается разница в интенсив-ностях лучей. [16]
Большую ценность представляет информация относительно современных технических средств и способов сканирования хроматограмм на бумаге и в тонком слое, в том числе и хроматограмм радиоактивных веществ. Описаны денситометры и сканирующие устройства, включающие спектрофотометр, для сканирования хроматограмм в видимой, ультрафиолетовой областях и для флуориметрических измерений. [17]
 |
Схема адаптивной сварки. [18] |
Для измерения геометрических характеристик линии сварки и самого шва в зоне сварки применяется способ сканирования луча лазерного дальномера вокруг точки сварки. Этот способ адаптивной сварки иллюстрируется рис. 5.18. В качестве излучателя здесь используется полупроводниковый лазер с мощностью импульса от 1 до 10 Вт, работающей в инфракрасном диапазоне. На свариваемые поверхности оптическая система лазера проецирует световое пятно диаметром 0 3 мм. Другая оптическая система воспринимает отраженный луч и фокусирует изображение пятна на фотоприемники прибора с зарядовой связью ( ПЗС) с разрешающей способностью порядка 10 мкм. [19]
 |
Считывание с помощью матрицы фотоприемников. [20] |
Существуют шесть основных методов считывания, применяемых в уже созданных или разрабатываемых ЭВМ и оптических машинах ( методы отличаются либо способом сканирования информации, либо типом используемых фотоэлементов): 1) метод с использованием линейки фотоэлементов: 2) метод с использованием матрицы фотоэлементов; 3) метод бегущего луча; 4) анализ фрагментов; 5) слежение за кривой с помощью электронного пучка; 6) сравнение с эталонным знаком. [21]
Заключительным этапом является написание инструкции ( методики) по ультразвуковому контролю изделия, в которой должны быть приведены методические указания и рекомендации по подготовке изделия к контролю, применению ультразвуковой аппаратуры, настройке дефектоскопов, способам сканирования, расшифровке осциллограмм прозвучивания и отбраковке дефектных деталей. [22]
Сканирование движением входной или выходной щели. Этот способ сканирования спектра в последнее время широко применяется в скоростной спектрометрии. Главное его преимущест - - во - сравнительная простота механического устройства и малая скважность, которая может быть при желании сделана близкой к нулю. [23]
Проблематика, связанная с частотным сканированием, не является новой. Этот способ сканирования луча, получивший название частотного сканирования, был основан на использовании зависимости замедления поверхностных волн от изменения частоты в резко дисперсионных замедляющих структурах. [24]
Сканирование движением входной или выходной щели. Этот способ сканирования спектра в последнее время широко применяется в скоростной спектрометрии. Главное его преимущество - сравнительная простота механического устройства и малая скважность, которая может быть при желании сделана близкой к нулю. [25]
Смещение полосы пропускания ИПФ возможно посредством изменения температуры. Возможность такого способа сканирования объясняется зависимостью величины двойного лучепреломления и толщины кристаллических пластин от температуры. При этом способе сканирования область сдвига ограничена, поэтому удобно использовать изменение температуры для сканирования полосы в окрестности тах. Недостатком этого способа является существенная его инерционность. [26]
 |
Классификация методов получения акустических изображений. [27] |
Способы сканирования и получения изображений рассмотрены выше применительно к обычному эхо-методу, хотя некоторые из них применяются также для других методов дефектоскопии, например С-развертка - для теневого метода. Эти же названия способов сканирования и получения изображения относятся также к когерентным способам обработки, хотя там точность представления истинных размеров дефектов на порядок выше. [28]
Вторым способом, не требующим изменения частоты, является использование для сканирования различных типов управляемых фазовращателей и схем с переключением. Ниже будут рассмотрены оба способа сканирования. [29]
Обнаружение дефекта во многом зависит от способа сканирования. Характеристики ультразвукового поля искателя, которыми производят поиск дефектов, существенно изменяются при изменении расстояния от излучателя. Среди переменных параметров основными являются изменение размеров сечения пучка, уменьшение интенсивности ультразвуковых колебаний от центра к его периферии и их поглощение и рассеяние в контролируемом материале изделий. Форма, ориентация, размеры, природа дефектов и их координаты также являются переменными факторами. Поэтому при выборе способа сканирования необходимо стремиться уменьшить влияние этих факторов на результаты контроля. [30]
Страницы: 1 2 3