Cтраница 3
В случае изотопного спектрального анализа часто приходится сравнивать линии, сильно отличающиеся по интенсивности. В фотоэлектрических установках для изотопного спектрального анализа применяются как способ накопления заряда на конденсаторах, так и способ сканирования линий. [31]
Так называют схемы, в которых используются малые углы падения и дифракции, что обеспечивает компактность прибора, высокое качество изображения и малый астигматизм. В этих схемах в том или ином виде используется установка решетки и обеих щелей на круге Роуланда, и отличаются они лишь способом сканирования спектра. [32]
Смещение полосы пропускания ИПФ возможно посредством изменения температуры. Возможность такого способа сканирования объясняется зависимостью величины двойного лучепреломления и толщины кристаллических пластин от температуры. При этом способе сканирования область сдвига ограничена, поэтому удобно использовать изменение температуры для сканирования полосы в окрестности тах. Недостатком этого способа является существенная его инерционность. [33]
Величина светового потока, проходящего через монохроматор с эталоном Фабри-Перо, определяется размерами выходной диафрагмы. Интерференционная картина этого прибора представляет собой систему концентрических колец, поэтому естественно выходную диафрагму выбрать в форме кольцевой щели. Не касаясь пока способов сканирования спектра, определим аппаратную функцию монохроматора с кольцевой диафрагмой; частным случаем ее является круглое отверстие, которое можно рассматривать как кольцо с внутренним диаметром, равным нулю. [34]
Для сравнения ЭКГ и МКГ производится их одновременная запись с испытуемых, находящихся в сидячем, лежачем или стоячем положениях. Для регистрации ЭКГ используются классические, грудные, модифицированные по Франку отведения. Для отведения МКГ исследователи применяют несколько способов сканирования области грудной клетки. Финские исследователи используют сетку из 36 квадратов, накладывающуюся спереди на грудную клетку испытуемого, и из 8 квадратов на спину испытуемого. [35]
В приборах этой группы сохранен принцип сканирования, присущий обычному ручному контролю. Приборы различают по двум основным признакам: способу сканирования и типу изображения. Сканирование можно выполнять вручную, но в этом случае обязательна связь между преобразователем и дефектоскопом, поскольку для визуализации необходима информация о положении преобразователя на поверхности изделия. В автоматических установках используют механическое и электронное сканирование. Последнее состоит в применении многоэлементного преобразователя либо большого числа параллельно действующих переключаемых преобразователей. Применяют также комбинированное сканирование, например ручное в продольном, механическое или электронное в поперечном направлениях либо механическое в продольном, электронное в поперечном направлениях. [36]
Осуществить одинаково хорошую фокусировку луча для всей поверхности пластины большого диаметра невозможно. Поэтому применяют пошаговое экспонирование, когда электронный луч по очереди вычерчивает рисунки отдельных схем на пластине. После экспонирования очередного участка ( кадра) рабочий стол с пластиной перемещается, производится автоматическое совмещение начального положения луча с пластиной и экспонирование следующего кадра. Совмещение осуществляют с точностью не хуже 0 1 мкм путем регистрации вторичных электронов, испускаемых металлическими метками совмещения на пластине при попадании на них электронного луча. Возможны два способа сканирования: растровый и векторный. [37]
При установлении внутристанционных соединений требуется найти свободный ШК ( рис. 4.2) для подключения к нему абонентских линий. При отбое также необходимо обнаружить освободившийся ШК и нарушить соединение. Шнуровые комплекты имеют точки сканирования, по состоянию которых определяется их незанятость и прием ими сигнала отбоя. Шнуровые ( и другие) комплекты группируются. Число комплектов в группе определяется длиной машинного слова и способами сканирования. [38]
Обнаружение дефекта во многом зависит от способа сканирования. Характеристики ультразвукового поля искателя, которыми производят поиск дефектов, существенно изменяются при изменении расстояния от излучателя. Среди переменных параметров основными являются изменение размеров сечения пучка, уменьшение интенсивности ультразвуковых колебаний от центра к его периферии и их поглощение и рассеяние в контролируемом материале изделий. Форма, ориентация, размеры, природа дефектов и их координаты также являются переменными факторами. Поэтому при выборе способа сканирования необходимо стремиться уменьшить влияние этих факторов на результаты контроля. [39]