Излучение - образец
Cтраница 1
 |
Схема установки с импульсной лампой, использующейся для измерения длительности фосфоресценции. [1] |
Излучение образца регистрируют только в течение темнового периода, когда короткоживущая флуоресценция полностью исчезает. [2]
 |
Установка типа Б.| Типичная характеристика счетной трубки. [3] |
Интенсивность излучения образцов для получения надежных результатов должна быть гораздо выше фона. [4]
Измеренные спектры интенсивностей излучения образцов золы в инфракрасной области / 6р / вр ( Я) показаны на фиг. [5]
 |
Схема установки для изучения. [6] |
Для обнаружения слабых тепловых эффектов излучения образца и эталона направляют поочередно ( при помощи механиче-кого прерывателя) на фотоприемник. Разность сигналов от образца и эталона усиливают при помощи усилителя и затем записывают при помощи самописца. [7]
Аналогичные результаты получены при облучении реакторным излучением образцов пресс-композиций на основе кремнийоргани-ческой смолы, наполненных обычным алюмо-боросшшкатным стеклом и кварцевой мукой. Зависимость от дозы нения механических свойств) обладает компо-облучения прочности при из - Зиция с кварцевым наполнителем. [8]
Поэтому в таких опытах кроме спектров поглощения и излучения образца с кюветой следует записывать также спектры поглощения и излучения пустой кюветы при той же температуре. Забвение этих требований может привести к серьезным ошибкам. Для получения же прецизионных спектральных характеристик сильно нагретого вещества необходимо использовать спектрометр, в котором модулятор расположен между источником излучения и кюветным отделением. [9]
Ослабление аналитических линий может быть скомпенсировано увеличением интенсивности излучения образца. [10]
В результате наложения желтого и красного свечения цвет излучения образца LaOCl - Eu3 - оранжевый. Возможно также излучение Еи3 с высоколежащих уровней 5D3 (: 465 нм), 5D2 ( 513 6 нм), ьОг ( К 533 и 554 3 нм) на подуровни / - мультиплета. [11]
 |
Схема двухлучевого ИК спектрофотометра с оптической компенсацией. [12] |
К недостаткам двухлучевой системы следует отнести то, что излучение образца, возможное при его нагревании ИК лучами, оказывается промодулированным на той же частоте, что и излучение источника света, так как вращающееся зеркало ( модулятор) расположено между образцом и монохроматором. Попадая на приемник, это излучение вызывает дополнительный сигнал, который искажает спектральную кривую, занижая измеряемое значение поглощения образца. [13]
При спектрометрическом варианте радиоактивационного анализа после облучения исследуют f - спектр излучения образца и сравнивают его со спектрами эталонов, облучавшихся при одинаковых условиях с образцом. Спектрометрический вариант дает возможность определять микропримеси без предварительной радиохимической обработки. Кроме того, при исследовании - j - спектра обнаруживаются изотопы, которые при радиохимическом способе могут быть пропущены, если на них не производится анализ. [14]
 |
Схема экспериментальной установки для определения е, . [15] |
Страницы: 1 2 3 4