Излучение - образец - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Русский человек способен тосковать по Родине, даже не покидая ее. Законы Мерфи (еще...)

Излучение - образец

Cтраница 2


В данной работе для определения испускательной способности силицированного графита в инфракрасной области использовался метод сравнения излучения образца с излучением черного тела, при этом образец и черное тело отделены друг от друга. При использовании этого метода основной трудностью является требование равенства температур черного тела и образца. Для достижения этого обычно используется какой-нибудь побочный метод определения истинной температуры. В данной работе таким методом был метод отражений, используемый для определения испускательной способности непрозрачных твердых тел в видимой области спектра.  [16]

Если известна эффективность счета, можно определить не только относительную, но и абсолютную интенсивность излучения образца.  [17]

Для получения снимка хорошего качества необходимо подобрать такое излучение, которое не вывцвало бы вторичного - излучения образца, так как последнее увеличивает вуаль на снимке. Для этого необходию, чтобы материал анода имел порядковый номер меньший или значительно больший, чаы у элементов, входящих: в состав исследуемого катализатора.  [18]

Спектрофлуориметрический детектор необходимо настраивать как на длину волны возбуждающего света, так и на длину волны излучения образца.  [19]

20 Основные части рентгеновского спектрометра. [20]

Из рентгеновской трубки первичного источника излучение направляется на анализируемый образец, закрепленный в спектрометре, и возбуждает излучение образца. Если мишенью в рентгеновской трубке служит сам образец, такой метод называется рентгеновским эмиссионным анализом.  [21]

22 Проточный пропорциональный счетчик со стойкой из органического стекла и свинцовой защитой. Слева к наружной стороне защитного свинцового кожуха прикреплен измеритель скорости потока газа, необходимый для контролирования и регулировки газового потока через счетчик. Держатель образца введена прорезь стойки, ближайшую к окошку счетчика. Перед счетным устройством видны алюминиевый держатель образца ( справа и тонкий поглотитель из алюминия, укрепленный в рамке. [22]

Это стандартное устройство используют в сочетании с многими измерительными приборами ( пропорциональными или сцинтилляционными счетчиками), предназначенными для регистрации излучения образцов, расположенных вне счетчика. Стойка держателя выполняется из органического стекла для сведения к минимуму рассеяния р1 - и у-излучений.  [23]

Первый вариант заключается в изучении у-активности почв при помощи самозаписывающих приборов по маршрутам либо в определенных точках; второй - в изучении активности у - излучения образцов пород, отобранных на исследуемой площади в выбранных точках.  [24]

Расчетная формула для фотографического метода регистрации может быть получена на основе простых предположений. Пусть излучение образца подчиняется закону Кирхгофа. Очевидно, что это справедливо для любого образца, в котором не происходят химические превращения.  [25]

Спектрометр настраивается на излучение образца с определенной энергией фотона. Затем измеряется зависимость интенсивности излучения от энергии возбуждающего фотона. Он стал очень популярным при изучении тонких эпитаксиальных слоев, выращенных на непрозрачных подложках. Часто предполагается, что спектр ВФЛ в первом приближении эквивалентен спектру поглощения образца. Поскольку трудно удалить подложку с эпитаксиального слоя, чтобы иметь возможность измерить поглощение, в качестве простой альтернативы применяется метод ВФЛ. Рассмотрим условия, при которых такое предположение является справедливым.  [26]

Зеркало 12 представляет собой прозрачную стеклянную плоскопараллельную пластинку с коэффициентом отражения около 8 %, поэтому оно мало влияет на яркость измеряемого излучения. Если нет надобности в разбавлении излучения образца, то пучок белого света перекрывается заслонкой 14, которая может быть заменена светофильтром, если к излучению образца необходимо добавить не белый свет, а окрашенный.  [27]

В качестве эталонов использованы образцы, проанализированные химическим методом. С их помощью находят зависимость между концентрацией и интенсивностью излучения образцов, разбавленных кварцем и крахмалом для получения искусственной основы.  [28]

При первом нагружении до 120 МПа наблюдается обычная картина нарастания скорости накопления повреждений. После разгрузки и повторного нагру-жения до этой же величины, с каждым циклом интенсивность излучения образца резко уменьшается. Характер изменения акустической эмиссии показывает, что при первом нагружении происходит самое интенсивное разрушение материала. Сначала разрушаются самые слабые волокна и микрообъемы. Если при последующих циклах величина нагрузки не превышает предыдущего значения, то более прочные связи временно сохраняются, и это ведет к кажущемуся упрочнению материала. С каждым циклом из работы выпадает определенное число перегруженных нитей. Этот процесс, очевидно, связан с повреждаемостью материала при повторном нагружении, но не с наличием сухого трения между компонентами.  [29]

30 Дифференциальная кривая нагрева сплава медь-галлий. Широкий изгиб при низких температурах является результатом различия термических свойств сплава и чистой меди. Третий изгиб при высоких температурах представляет истинную остановку.| Дифференциальные кривые нагрева и охлаждения, обнаруживающие остановку, связанную со сверхструктурным превращением ( кривые получены для сплавов медь-галлий. [30]



Страницы:      1    2    3    4