Дифрагированное излучение
Cтраница 1
 |
Оптическая схема получения когерентного освещения в микроскопе. [1] |
Дифрагированное излучение и фон когерентны и поэтому образование изображения в плоскости 11 следует рассматривать как результат интерференции этих излучений. Чтобы нагляднее учесть интерференцию лучей от отдельных точек, освещенных когерентным светом, рассмотрим образование изображения амплитудной дифракционной решетки - системы прозрачных щелей одинакового размера в непрозрачном экране. Это происходит следующим образом. [2]
 |
Дифракционная рентгенограмма низкотемпературного кварца.| Ионизационная рентгенограмма низкотемпературного кварца. [3] |
Дифрагированное излучение вызывает в зависимости от его интенсивности соответствующие степень ионизации газа в цилиндре и импульс тока. На шкале регистрирующего прибора получают показания, пропорциональные интенсивности рентгеновских лучей. [4]
Если дифрагированное излучение регистрируется фото-электрич. [5]
Поскольку интенсивность дифрагированного излучения пропорциональна квадрату атомного номера, снижение чувствительности сильнее сказывается при исследовании элементов с низким атомным номером. [6]
Таким образом, дифрагированное излучение образует систему конусов, каждый из которых определяется соответствующими индексами HK. Эти конусы называются конусами Косселя, а линии их пересечения с плоской пленкой ( в общем случае кривые 4 порядка) - линиями Косселя. [7]
Физическое содержание терминов рассеянное излучение и дифрагированное излучение совершенно одинаково. Обычно пользуются словами дифракция, дифракционный, когда картина рассеяния обладает несколькими четко выраженными максимумами и минимумами. Когда же интерференционный характер картины выражен менее четко, говорят о рассеянии. [8]
Выбирая метод съемки ( способ регистрации дифрагированного излучения), следует помнить, что при правильно выбранном режиме съемки и проявлении пленки чувствительность фотографического метода выше, чем дифрактометрического с непрерывной записью. Это объясняется тем, что при фотографическом способе регистрации дифракционная картина фиксируется и формируется одновременно во всем интервале углов, тогда как в случае дифрактометрического способа - в ограниченном интервале углов Вульфа - Брегга и для ограниченных ориентировок кристалла. [9]
При замене амплитудной решетки каким-нибудь непериодическим объектом дифрагированное излучение непрерывно распределится в фокальной плоскости объектива. Крупным деталям объекта соответствуют низкие частоты, так как излучение, дифрагированное на них, мало отклонится от прямолинейного распространяющегося пучка. Малые детали объекта, которым соответствуют высокие пространственные частоты, дадут дифрагированные лучи, сильно отклоненные от направления распространения параллельного пучка света. [10]
Пф, время, затраченное на измерение дифрагированного излучения, увеличится в шесть раз. Величина фона, следовательно, непосредственно влияет на точность измерений. [11]
При дифракции света на звуковом сигнале в дифрагированном излучении возникает оптич, изображение сигнала, к-рое затем обрабатывается с помощью разл. Обработка сигнала осуществляется путем одноврем. [13]
При больших значениях z или больших толщинах амплитуда дифрагированного излучения при перемещении точки А по предельной окружности колеблется между двумя крайними значениями. Этот вопрос будет рассмотрен ниже. [14]
Дифракция рентгеновских лучей и дифракция электронов различаются длиной волны дифрагированного излучения и его интенсивностью. Разная длина волны обусловливает разницу масштабов дифракционной картины, которая будет рассматриваться в разд. Различие интенсив-ностей объясняется различием физических механизмов рассеяния. [15]
Страницы: 1 2 3 4