Дифрагированное излучение

Cтраница 3

Так как надежность идентификации повышается, если число отражений фазы растет, то съемку при работе фотометодом следует проводить от столбика в камере Дебая с вращением препарата. Диаметр камеры должен быть большим ( рекомендуются камеры РКУН4 и РКУ86), если дифрагированное излучение не поглощается заметно воздухом. Расположение пленки может быть прямым или, что лучше, асимметричным, особенно если фазовый анализ должен завершиться определением значений периодов решеток присутствующих фаз. [31]

Строят большую окружность R ( называемую кругом Роуланда), радиус кривизны которой составляет половину радиуса кривизны решетки G; при этом окружность касается центра дифракционной решетки. Можно показать математически, что если входная щель расположена на этой окружности, то дифрагированное излучение собирается в фокусе также на этой окружности. Часть излучения, которая не диспергируется, отражается от решетки как от вогнутого зеркала и фокусируется на окружности в точке Р, известной под названием главного фокуса или центрального изображения. [32]

Преимущество фотографического метода по сравнению с дифрактометрическим методом состоит в возможности получения пространственного распределения дифрагированного излучения; это определяет специфику применения указанных методов. Если при фотографическом методе все отраженные от образца пучки излучения фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установленный на гониометре счетчик излучения, непрерывно двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец, последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается на электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорционально мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [33]

Нагрев исследуемого образца осуществляется электрической печью с нагревателем в виде спирали, уложенной в пазы керамического каркаса. Печь устроена таким образом, что образец нагревается равномерно со всех сторон; окна в печи служат для прохода прямого и дифрагированного излучения. [34]

Чем больше т э и меньше б, тем в большей степени дифрагированное излучение ослабляется за счет поглощения. Увеличение г з означает уменьшение доли энергии первичного пучка, приходящейся на единицу поверхности кристалла; уменьшение 6 связано с уменьшением доли энергии дифрагированного излучения, приходящейся на единицу сечения пучка, а значит, и уменьшением почернения рентгеновской пленки. [35]

Дифрагированные лучи выходят из кристалла под углом 6 к его поверхности и под углом 29 к падающему лучу. Современные гониометры устроены так, что детектор автоматически перемещается с угловой скоростью, в два раза превышающей угловую скорость вращения кристалла и в результате на детектор всегда попадает дифрагированное излучение. [36]

Нагрев исследуемого образца осуществляется электрической печыо сопротивления с нагревателем в виде спирали, уложенной в пазы керамического каркаса. Печь состоит из двух цилиндрических частей и устроена таким образом, что образец нагревается равномерно со всех сторон; щель между обеими частями печи служит для прохода прямого и дифрагированного излучения. [37]

При построении оптической схемы измерений необходимо учитывать, что рассеянное излучение больших частиц имеет дифракционную составляющую. Причем дифрагированная волна не зависит от показателя преломления частиц и поляризации падающей волны. Дифрагированное излучение больших сферических частиц ( 7 1) сосредоточено в конусе с углом в - 3 83 / 7, который для большинства частиц не превышает 1 град. [38]

К обычно известна, а углы § измеряются экспериментально. Условие ( 1) получено без учета эффекта преломления для безграничного кристалла, имеющего идеально-периодическое строение. В действительности дифрагированное излучение распространяется в конечном угловом интервале ttiAfl -, причем ширина этого интервала определяется в кннематич. Искажения решетки кристалла в зависимости от их характера ведут к изменению угла f, или возрастанию Дт, или к тому и другому одновременно. [39]

Показатель преломления в намагниченной среде являтся функцией магнитооптического параметра Q ( J - - iQ, который пропорционален намагниченности. При определенном распределении намагниченности показатель преломления также становится периодическим. Для описания дифрагированного излучения необходимо знание матрицы пропускания образца с конкретной доменной структурой. [40]

Приведенные результаты были получены [46 ] в предположении об изотропности рассеяния во всех зонах топочной камеры. В то же время, как уже отмечалось выше, для частиц золы и кокса в пылеугольном пламени характерным является анизотропное рассеяние преимущественно в направлении распространения падающего излучения. Влияние анизотропии рассеяния уменьшается по мере увеличения доли дифрагированного излучения. [41]

Сформулированные условия, строго говоря, несовместны с математической точки зрения. Действительно, как уже было упомянуто выше, значения ф и grad ф нельзя задавать в точках граничной поверхности независимо одни от других. Нужно заметить также, что если в экране имеются отверстия, то предположения 1 и 2 приводят к тому, что вдоль контура каждого из этих отверстий функция ф испытывает разрыв непрерывности, в то время как теорема Грина справедлива только для функций, непрерывных всюду на граничной поверхности о. Поэтому дифрагированное излучение в основном сохраняет направление падающей волны и предположение о равенстве нулю поля на затененной стороне экрана приблизительно выполняется. [42]

Схема камеры Ягодзинского. [43]

Пучок, отражающийся от кристалла, фокусируется в тонкий штрих, имеющий значительную высоту. Проблема экспресс-съемки решена конструктивно очень оригинально. На пути пучка излучения помещаются четыре образца. Кассета разделена специальными перегородками, которые поглощают дифрагированное излучение, даваемое соседними образцами. В результате на одной пленке фиксируются четыре рентгенограммы, расположенные одна над другой. Такая схема позволяет за 3 - 3 5 часа снять четыре образца, что бывает очень удобно при изучении систем. [44]

В большинстве случаев, в частности в электронных микроскопах дифракционного типа, картину наблюдают на флюоресцентных экранах и регистрируют на фотопластинки. В последних разработках осуществлено сканирование электронной дифракции. В этом случае используется система отклонения всего дифрагированного излучения на стационарную систему детектирования, причем последняя представляет собой комбинацию сцинцилляционного счетчика-фотоумножителя с электронным считывающим устройством. Для предотвращения попадания неупруго рассеянных электронов в систему детектирования, можно применить скоростной фильтр. Это значительно улучшает качество дифракционной картины благодаря подавлению некогерентного фона. В следующих разделах обсуждаются некоторые специфические особенности нескольких схем электронной дифракции. [45]

Страницы: 1 2 3 4