Вторичное излучение

Cтраница 1

Вторичное излучение принято разделять на зеркальное отражение, диффузное рассеяние и резонансное излучение в зависимости от характеристик облучаемого объекта. [1]

Вторичное излучение, возникающее - при взаимодействии а - и р-частиц с веществом экрана, зависит от характера первичного излучения и природы экрана; оно не может быть рассчитано и поэтому должно определяться опытным путем. [2]

Вторичное излучение возникает в результате взаимодействия космических лучей с атмосферой и состоит из электронов, нейтронов, мезонов и фотонов. [3]

Схемы наблюдения 1-резонансных эффек.| Характеристики у-резонансного эффекта для некоторых изотопов.| Энергетические спектры источников нейтронов. [4]

Вторичное излучение может иметь непрерывный, линейчатый или смешанный спектр. Вторичное излучение, спектр которого имеет линейчатый характер, называется характеристическим. [5]

Вторичное излучение, составляющее основную часть всех космических лучей от высоты 25 км и ниже, складывается из различных элементарных частиц: фотонов, электронов, позитронов, различных мезонов, протонов и нейтронов. [6]

Вторичное излучение, вызванное облучением рентгеновскими лучами. [7]

Вторичное излучение распространяется во всех направлениях и поэтому может очень сильно завуалировать пленку и снизить тем самым четкость изображения. Интенсивность вторичного излучения пропорциональна толщине просвечиваемого металла, поэтому при контроле особенно толстостенных изделий с этим излучением необходимо считаться. [8]

Вторичное излучение системы описывается на квантовом языке следующим образом. Система поглощает квант электромагнитной энергии и поднимается на более высокий энергетический уровень. На этом уровне система некоторое время существует, а затем возвращается на прежний энергетический уровень, отдавая при этом энергию также в виде кванта. [9]

Схемы приборов для спектрального анализа по вторичному характеристическому излучению. а - рентгеновский флюоресцентный. б - рентгеновский бескристальный. в - одноканальный v-спектрометтг е-многоканальный спектрометр. / - источник излучения. 2 - анализируемый образец. 3 - коллиметр. 4. [10]

Характеристическое вторичное излучение может возбуждаться с помощью рентгеновских или радиоизотопных источников. При использовании рентгеновских источников нужный спектральный состав обеспечивается выбором рентгеновских трубок и регулировкой напряжения, подаваемого на анод. Вырезание нужной области из спектра рентгеновского излучения достигается за счет фильтров, в качестве которых могут использоваться кристаллы различных веществ. В случае применения радиоизотопных источников требуемая энергия у-излучения обеспечивается их выбором. [11]

Диаграммы вторичного излучения являются лишь статическими характеристиками отраженного сигнала. В реальных условиях за счет движения цели и изменения условий распространения радиоволн отраженный сигнал всегда флюктуирует тю амплитуде и фазе. Флюктуации, связанные с изменениями условий распространения, не являются специфическими для радиолокации и на них мы останавливаться не будем; флюктуации же, связанные с движением цели, обусловлены изменением ракурса цели ( рыскания) и вибрацией ее поверхности. При рысканиях диаграмма вторичного излучения поворачивается случайным образом относительно направления на радиолокатор, а за счет вибрации меняется вид этой диаграммы, которая в результате оказывается случайной функцией времени. [12]

Эффекты вторичного излучения, напротив, будут иметь максимум на известной высоте, поскольку первичные лучи при проникновении в толщу атмосферы слишком сильно поглощаются. [13]

Примером вторичного излучения являются: тормозное излучение, образующееся при облучении электронами мишени, и пучки нейтронов, возникающие при облучении мишени протонами. [14]

Ко вторичному излучению относится и рентгеновское излучение, неупруго рассеянное на тепловых колебаниях кристаллической решетки. В некоторых случаях при облучении кристалла рентгеновским излучением наблюдается люминесцентное излучение. [15]

Страницы: 1 2 3 4