Вторичное излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Умный мужчина старается не давать женщине поводов для обид, но умной женщине, для того чтобы обидеться, поводы и не нужны. Законы Мерфи (еще...)

Вторичное излучение

Cтраница 2


Именно это вторичное излучение ( еще довольно мощное и жесткое) достигает земной поверхности, а первичное излучение удается зафиксировать лишь в самых верхних слоях атмосферы и, конечноу в космосе.  [16]

Если же вторичное излучение от фольги распространяется в виде фотонов, то последние будут попадать в оба счетчика в разные моменты времени и метки на диаграммных лентах не должны совпадать.  [17]

Направление потока вторичного излучения и его спектральный состав ( совокупность частот) отличаются от падающего излучения.  [18]

19 Схема устройства растрового электронного микроскопа. 1 - электронная пушка. 2 - конденсор. 3 - отклоняющая система. 4 - конечная линза с корректором астигматизма. 5 - объектный столик. 6 - образец. 7 - вакуумная система. 8 - генератор разверток. 9 - блок управления увеличением. 10 -селектор сигналов ( для выбора регистрируемого вторичного излучения. 11-ндеоусилитель. 12 13 - ЭЛТ и ее отклоняющая система. ВИрВИз - потоки вторичных излучений. Ц - С, - электрет, сигналы. Д Д, - детекторы. ЭЛ, ЭЛ2 - электронные лучи. X, У - направления сканирования ( строчная и кадровая развертки. [19]

Выбор регистрируемого вторичного излучения обусловлен задачей исследования. Поскольку интенсивность эмиссии ВЭ сильно зависит от угла падения электронного луча на пов-сть, получаемое изображение весьма близко к обычному макроскопич. Эмиссия ВЭ отличается наиб, интенсивностью по сравнению с др. вторичными излучениями. Кроме того, в этом режиме достигается макс, разрешение.  [20]

Повышенное поглощение и вторичное излучение, связанное с наличием L - краев, может иметь место при съемке соединений некоторых лантанидов. В таблице 1 приведены длины волн наиболее употребительных типов излучения и указано, при съемке соединений каких элементов их не рекомендуется использовать. Если образец содержит несколько таких нежелательных элементов, необходимо вспомнить, что спектр поглощения сложного вещества является суммой спектров компонентов с коэффициентами, пропорциональными их весовой ( или массовой) концентрации.  [21]

В таких приборах вторичное излучение коллимируется и направляется на кристалл, выполняющий функцию дифракционной решетки, отклоняющей излучение различной частоты на различные углы.  [22]

Затем следует группе вторичного излучения, состоящая главным образом из у-лучей, возникающих в результате поглощения нейтронов от машины или котла. В некоторых случаях эти у-лучи могут обладать очень высокой интенсивностью и играть исключительную роль в вопросах вредности. Третья группа излучений связана с наличием радиоактивных веществ как вне, так и внутри человеческого тела куда они могут попасть в результате вдыхания, через рот, либо, наконец, благодаря абсорбции, через кожу.  [23]

24 Схема v-реле проходящего излучения. 1 - источник излучения. 2 - контролируемый объект. 3 - блок детектирования. 4 - блок управления. 5 - индикатор.| Основные способы, используемые в радиоизотопных датчиках. [24]

По энергетическому распределению вторичного излучения, анализируемому непосредственно в процессе облучения, определяется содержание некоторых элементов.  [25]

26 Сводка данных о периодах полураспада тяжелых ядер относительно спонтанного деления. По оси абсцисс - параметр деления Z2 / A, по оси ординат период полураспада ( слева - в годах, справа - в секундах. Данные для разных изотопов элементов с четными Z ( U, Pu, Cm, Cf, Fm, 102 объединены кривыми. Прямая характеризует зависимость log Ti ( сек 157 - 3 75 Z jA. [26]

После внутренней конверсии возникает вторичное излучение в рентгеновской и оптич. Участие электронных оболочек в конверсионных переходах приводит к тому, что время жизни соответствующих изомеров зависит ( хотя и очень слабо) от химич.  [27]

Повтор и Пвтор - вторичное излучение.  [28]

Как правило, интенсивность вторичного излучения не зависит от формы химической связи определяемого элемента. Порог обнаружения в отдельных случаях составляет 10 - 5 %, хотя в большинстве случаев он находится в пределах 10 - 3 - 10 - 4 мае. Время анализа может быть доведено до 1 мин. Но главное достоинство РФА в том, что при своих характеристиках ( суммарная погрешность 5 - 10 %, предел обнаружения 10 - 3 - 10 4 %, длительность определения с учетом пробоподготовки 20 - 25 мин) он реализуется на сравнительно простой и малогабаритной аппаратуре.  [29]

При согласованной нагрузке мощность вторичного излучения Ро2 / 2Яиз / 2Я2 и, следовательно, приемный диполь ( антенна) поглощает из окружающего пространства мощность 2Рог; одна ее половина поступает на вход радиоприемника, а другая теряется на вторичное излучение.  [30]



Страницы:      1    2    3    4