Cтраница 2
Контроль поверхностей оптических деталей методом пробных стекол имеет существенные недостатки: часто происходит повреждение поверхности детали, а в условиях массового контроля метод пробных стекол мало производителен. [16]
Погрешность сферометра ИЗС-7 определяют по образцовым пробным стеклам. Методика измерения высоты ( стрелки) пары пробных стекол заключается в следующем. [17]
Если исследуемая поверхность плоская, то пробное стекло тоже имеет плоскую поверхность. Интерференционные полосы наблюдаются в белом свете в тонком слое воздуха между стеклами. Форма испытуемой поверхности сказывается на форме полос. Прямые и равноотстоящие друг от друга полосы получаются в том случае, когда соприкасающиеся поверхности стекол имеют строго одинаковую форму. Метод пробных стекол позволяет обнаружить неправильности в несколько сотых долей микрона. [18]
Большинство оптических поверхностей контролируют с помощью пробных стекол. Однако метод пробного стекла требует непосредственного контакта эталонной и контролируемой поверхностей, что в некоторых случаях недопустимо. В других случаях требуется повышенная точность контроля, поэтому в оптической промышленности наряду с пробными стеклами применяют различные интерферометры, контролирующие поверхности бесконтактным методом. [19]
Может оказаться, что при наложении пробного стекла соприкосновение будет в центре линзы. [20]
Для деталей, не подлежащих контролю пробными стеклами, отклонения N и Д N не указываются. [21]
![]() |
Чертеж призмы ( без таблиц. [22] |
Для деталей, не подлежащих контролю пробными стеклами, отклонения N и ДАТ не указываются. [23]
Инструментальное стекло - лупы, окуляры, пробные стекла, сетки, ампулы, уровни и пр. [24]
![]() |
Интерференционный метод контроля поверх ности. [25] |
При испытании поверхностей большого размера ( до нескольких метров) пробное стекло, конечно, не применимо. [26]
![]() |
Схема образования колец Ньютона. [27] |
В табл. 3 приведены формулы для вычисления разности радиусов испытуемой поверхности и пробного стекла. [28]
При отсутствии специальных образцов профилографы проверяют плоскопараллельными концевыми мерами, притираемыми к пробному стеклу так, что свободные измерительные поверхности образуют ступеньку. [29]
Для обнаружения отступлений от правильной сферической или плоской формы широко пользуются так называемым методом пробных стекол, сущность которого состоит в следующем. [30]