Cтраница 3
![]() |
График перемещений точек поверхности линзы по горизонтали и вертикали и удлинения дуги по диаметральному сечению. [31] |
В силу того, что смещение происходит не только в направлении v, но и и, определение перемещения точки с помощью пробного стекла ( по соответствующим кольцам Ньютона) вносит заведомую погрешность. Предлагаемый экспериментально-теоретический метод позволяет учитывать эту неточность. [32]
Контроль поверхностей оптических деталей методом пробных стекол имеет существенные недостатки: часто происходит повреждение поверхности детали, а в условиях массового контроля метод пробных стекол мало производителен. [33]
Контроль при помощи пробного стекла заключается в том, что в качестве допуска указывается число и форма интерференционных полос, которые возникают при накладывании пробного стекла на изделие. [34]
![]() |
Астигматизм при отражении от наклонной сферической поверхности. [35] |
АЛ в) аоп - допуск на астигматизм выходящего волнового фронта, выраженный числом полудлин волны света, используемого для освещения при контроле поверхности пробным стеклом. [36]
Методика измерения высоты шарового сегмента отдельного сферического стекла аналогична предыдущей, с тем лишь отличием, что на опорное кольцо вначале устанавливают плоскую стеклянную пластину, а затем измеряемое пробное стекло. Разность двух средних арифметических значений пяти отсчетов равна высоте шарового сегмента измеряемого стекла. [37]
Дпу - допускаемое отклонение показателя преломления Яд А ( пр - Hq) - допускаемое отклонение средней дисперсии пр - пс Д & Я, - допускаемое отклонение показателя поглощения kx Dnp - с - диаметр пробного стекла N - допускаемое отклонение радиуса поверхности детали от радиуса поверхности пробного стекла, выраженное числом интерференционных колец &. N - допускаемое отклонение формы поверхности от сферы или плоскости ( местные ошибки) / т1п - наименьшее фокусное расстояние пластинок или призм как результат сферичности их поверхностей 0 - допускаемая клиновидность или разнотолщинность пластинки в мин. [38]
Оптиками принято при полировке оптических поверхностей точность изготовления называть качеством поверхности и оценивать ее в долях полосы AN, понимая под этим относительную величину местного искажения интерференционной полосы, наблюдаемой в воздушном клине при наложении на обрабатываемую деталь пробного стекла. Для пластины эталона Фабри-Перо пробное стекло заменяет вторая, парная ей, пластина эталона. [39]
Дпу - допускаемое отклонение показателя преломления Яд А ( пр - Hq) - допускаемое отклонение средней дисперсии пр - пс Д & Я, - допускаемое отклонение показателя поглощения kx Dnp - с - диаметр пробного стекла N - допускаемое отклонение радиуса поверхности детали от радиуса поверхности пробного стекла, выраженное числом интерференционных колец &. N - допускаемое отклонение формы поверхности от сферы или плоскости ( местные ошибки) / т1п - наименьшее фокусное расстояние пластинок или призм как результат сферичности их поверхностей 0 - допускаемая клиновидность или разнотолщинность пластинки в мин. [40]
Пробное стекло является основным измерительным и контрольным инструментом при обработке поверхностей оптических деталей [2] и определении их деформаций под влиянием самых разнообразных условий. Пробные стекла позволяют исследовать изготовленные поверхности с точностью до 0 01 мкм. Пользоваться ими очень просто, что и обусловило их широкое применение. Применение механических приборов для этой цели ограничено в силу их громоздкости и меньшей точности. [41]
Большинство оптических поверхностей контролируют с помощью пробных стекол. Однако метод пробного стекла требует непосредственного контакта эталонной и контролируемой поверхностей, что в некоторых случаях недопустимо. В других случаях требуется повышенная точность контроля, поэтому в оптической промышленности наряду с пробными стеклами применяют различные интерферометры, контролирующие поверхности бесконтактным методом. [42]
Контроль без пробного стекла проводится только при невысоких требованиях к точности. Ошибка формы поверхности характеризуется тогда допустимыми отклонениями кривизны поверхности. [43]
Оптиками принято при полировке оптических поверхностей точность изготовления называть качеством поверхности и оценивать ее в долях полосы AN, понимая под этим относительную величину местного искажения интерференционной полосы, наблюдаемой в воздушном клине при наложении на обрабатываемую деталь пробного стекла. Для пластины эталона Фабри-Перо пробное стекло заменяет вторая, парная ей, пластина эталона. [44]
![]() |
Физико-химические свойства ситаллов. [45] |