Эквивалентная схема - диод - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если третье лезвие бреет еще чище, то зачем нужны первые два? Законы Мерфи (еще...)

Эквивалентная схема - диод

Cтраница 2


Заметим, что эквивалентная схема диодов коаксиального и волновод-ного типов в отличие от рис. 1.13 не содержит емкости Ск, как это очевидно из их конструкции.  [16]

Для правильного представления эквивалентной схемы диода необходимо измерять емкость собственно р-п перехода.  [17]

18 Эквивалентная схема ЛПД. [18]

На рис. 3.29 приведена эквивалентная схема лавин-но-пролетного диода.  [19]

20 Эквивалентные схемы варикапов для области низших ( а и высших ( б частот.| Зависимости добротности варикапа от частоты ( а и обратного напряжения ( б. [20]

Эквивалентные схемы варикапа аналогичны эквивалентным схемам диодов. В полной моделирующей схеме ( рис. 9 - 28) учитываются емкость р-п перехода С, утечка g, шунтирующая запертый р-п переход, сопротивление выводов г ( в том числе объемное сопротивление полупроводниковой пластинки), собственная индуктивность LM выводов и конструктивная емкость См корпуса и выводов. Элементы LM и См оказываются существенными лишь в области СВЧ, причем их присутствие может привести к заметным отклонениям действующей емкости варикапа от емкости С p - n - перехода. Роль активного сопротивления г и проводимости утечки g с изменением рабочей частоты изменяется.  [21]

22 Эквивалентные схемы варикапов для области нижних ( а и иерхних ( б частот.| Зависимость добротности варикапа от частоты ( а и обратного напряжения ( б. [22]

Эквивалентные схемы варикапа аналогичны эквивалентным схемам диодов. В полной моделирующей схеме ( рис. 2 - 19) учитываются емкость р-п перехода С Сб, утечка g, шунтирующая запертый р-п переход, сопротивление выводов г ( в том числе объемное сопротивление полупроводниковой пластинки), собственная индуктивность LM выводов и конструктивная емкость См корпуса и выводов. Элементы LM и См оказываются существенными лишь в области СВЧ, причем их присутствие может привести к заметным отклонениям действующей емкости варикапа от емкости Се р-п перехода. Роль активного сопротивления т и проводимости утечки g изменяется с изменением рабочей частоты.  [23]

На рис. 3.18, г показана эквивалентная схема диода, включенного в обратном направлении.  [24]

25 Диод с последовательно включенным активным сопротивлением и источником питания.| Построение линии нагрузки для постоянного тока на характеристике диода.| Выпрямительный диод 5U4 - G с активным. [25]

На рис. 2 - 16 дана эквивалентная схема диода для переменного тока.  [26]

В состав библиотеки системы кроме стандартных функций, упомянутых выше, включены эквивалентные схемы диодов, транзисторов и трансформаторов, каждая из которых представлена своим топологическим описанием, подпрограммой расчета выходных параметров и тремя наборами внутренних параметров, соответствующих нормальной, минимальной и максимальной температурам окружающей среды. Наличие таких библиотечных моделей активных элементов значительно облегчает пользователю работу по подготовке исходных данных, не уменьшая ( за счет большого набора эквивалентных схем) моделирующих возможностей системы. Кроме того, если в библиотеке отсутствует нужная модель или подходящий набор ее параметров, у пользователя остается возможность поэлементного описания модели или включения в состав информации, описывающей анализируемую схему, соответствующего набора внутренних параметров. Следует отметить, что в обоих этих случаях существенно увеличиваются объемы как исходных данных, так и рабочей программы.  [27]

Во многих применениях полупроводниковых диодов интерес представляют соотношения шума и сигнала на двух парах полюсов эквивалентной схемы диода - на входных и на выходных полюсах, при фиксированных условиях на остальных парах полюсов.  [28]

Например, большие затруднения возникают при рас - Nere СВЧ устройств, содержащих полупроводниковые йяоды, так как хотя эквивалентные схемы диодов в принципе известны, параметры этих схем и элементов связи диодов с линией передачи в значительной степени зависят от геометрической конфигурации области, в которой находится диод. Экспериментальное измерение параметров схем методами - перемещающейся реактивной нагрузки оказывается затруднительным, особенно в случае микрополосковых линий или-схем, работающих на высоком уровне мощности.  [29]

Более строгий учет реальных нагрузок смесительного диода на ряде гармоник гетеродина может проводиться как при решении системы нелинейных дифференциальных уравнений, соответствующих эквивалентной схеме диода и смесительной камеры, так и методом поиска условий баланса комплексных амплитуд напряжений гармоник гетеродина на зажимах диода и его внешней цепи или баланса мгновенных значений напряжения на тех же зажимах.  [30]



Страницы:      1    2    3    4