Измерение - интенсивность - линия
Cтраница 2
 |
Интенсивность в максимуме. [16] |
Вторая трудность при измерении интенсивности линий комбинационного рассеяния света возникает в связи с влиянием показателя преломления рассеивающей среды. [17]
Весьма существенным при измерении интенсивностей линий комбинационного рассеяния света является их значительная собственная ширина, которая у разных линий варьирует в довольно широких пределах. В связи с этим прежде всего встает вопрос, какая именно измеряемая величина должна быть выбрана для. [18]
Основной трудностью при измерениях интенсивностей линий комбинационного рассеяния света является их крайняя слабость. Вследствие этого даже для самых сильных комбинационных линий практически исключена возможность использования визуальных методов измерения. Основными и наиболее разработанными в настоящее время являются фотографические и фотоэлектрические методы. [19]
В этом случае для измерения интенсивности спект-шьных линий спектр исследуемого вещества снимают 1 фотографическую пластинку. Интенсив-сть почернения в свою очередь пропорциональна кон-нтрации определяемого элемента. [20]
Канал 1 служит для измерения интенсивности линии определяемого элемента, канал 2 - для измерения излучения, рассеянного анализируемой тканью. Таким образом, канал 2 служит в качестве монитора, и, измеряя отношение сигналов в двух каналах, можно исключить флуктуации интенсивности рентгеновской трубки. [21]
Фотоэлектрический метод основан на измерении интенсивности линий с помощью фотоэлементов и пока еще мало распространен. [22]
Спектральный метод основан на измерении интенсивности линий элементов - примесей в спектре сухого остатка, полученного после выпаривания раствора хлорида галлия на угольном порошке. [23]
Сущность метода заключается в измерении интенсивности линии парафинов на дифрактограмме битума и определении массовой доли парафинов по градуировочному графику. [24]
Для различных вариантов были проведены измерения интенсивностей линий NbKa и SnKa на реальных образцах и на образцах без покрытия сверхпроводящим слоем для определения величины фона. По этим данным были рассчитаны суммарные интенсивности и-их отношения. [25]
С; сгизм - погрешность измерения интенсивности линии и фона; стИСт - флуктуации интенсивности фона и линии, обусловленные нестабильностью источника света; К. [26]
Все методы количественного анализа основаны на измерении интенсивности линий спектра и сравнении интенсивностей линий примеси и основного компонента. При количественном анализе еще больше, чем при качественных определениях, необходима максимальная достижимая стабильность разряда. Для наибольшей точности и быстроты анализа следует применять фотоэлектрические методы регистрации спектров. Количественный спектральный анализ при настоящем уровне его разработки применим главным образом к бинарным смесям и лишь в отдельных случаях к более сложным смесям. [27]
Разделение обоих вкладов возможно, если сравнить измерения интенсивности линий при разных температурах, так как вклад ы2ст в множитель Дебая - Валлера не зависит от температуры. [28]
Существующие методы анализа целесообразно классифицировать по способу измерения интенсивности линий и подрязделить на три группы: фотографические, визуальные и фотоэлектрические методы. Наиболее распространены в настоящее время фотографические методы. В этих методах объектом измерений является почернение изображений линий на спектрограмме, от которых, с помощью различных приемов фотографической фотометрии, переходят к интенсивностям, вызвавшим эти почернения или непосредственно к определению концентрации анализируемого элемента. [29]
 |
Принципиальная оптическая схема микрофотометра. [30] |
Страницы: 1 2 3 4