Cтраница 1
Измерение коэффициента отражения рассеянного ( диффузного) света от стеклянных тканей производится на приборе шар Тейлора-полом шаре, выкрашенном изнутри белой матовой краской. Внутрь шара помещают образец и эталон с известным коэффициентом отражения. [1]
![]() |
Интерферограммы опытных нарезных решеток, иллюстрирующие некоторые типичные ошибки деления. [2] |
Для измерения коэффициента отражения решетка устанавливается в монохроматор, но строенный по автоколлимационной или близкой к ней схеме. Входная щель монохроматора освещается монохроматическим светом. В качестве источника применяются спектральные лампы, дающие набор отдельных линий, либо источник сплошного спектра с предварительным монохроматором. Определяется отношение величины монохроматического лучистого потока, дифрагированного решеткой, к потоку той же длины волны, отраженному от эталонного зеркала. Измерения выполняются в одном или нескольких порядках спектра в области высокой концентрации при K / d 0 2 в неполяризованном и Kid 0 2 - в поляризованном свете. Во втором случае отдельно измеряются коэффициенты отражения для света, поляризованного параллельно и перпендикулярно штрихам, и как среднее из этих значений получается коэффициент отражения для неполяризованного излучения. Эффективность прозрачных решеток оценивается, как правило, по отношению к потоку, падающему на решетку, и для неметаллических решеток может измеряться без учета поляризации, поскольку поляризационные эффекты в этом случае выражены слабо. [3]
Для измерений коэффициента отражения в случае нормального падения света использовалась цилиндрическая кварцевая кювета высотой около 2 см с оптическим окном диаметром 6 см. Термостатирование кюветы производилось при помощи водяного термостата с точностью 0 05 С. [5]
При измерении коэффициентов отражения на компараторе цвета ФКЦШ-М из накраски вырезают 3 кружка диаметром 23 мм ( один используется в качестве вспомогательного образца), а на компараторе ЭКЦ-1, фотоколориметре КНО-3 и блескомере ФБ-2 накраску разрезают на 2 полоски. Одну из полосок или один иа кружков подвергают облучению под ртутно-кварцевой лампой ПРК-2 или ДРГ-375, остальные хранят в темноте. [6]
При измерении коэффициента отражения волна сдвиговых колебаний распространяется в кварцевом стержне и отражается от оптически гладкой поверхности, на которую помещен исследуемый образец. [7]
Согласно (141.4) измерение коэффициента отражения по интенсивности металла также можно использовать для определения оптических постоянных металла. [8]
![]() |
Схема спек-трофотометрии отражения и пропускания. [9] |
Традиционная схема измерения коэффициентов отражения и пропускания света пластинкой при нормальном падении включает источник света, монохроматор и фотоприемник. Большинство серийно выпускаемых спектрофотометров предназначено для регистрации спектров пропускания при нормальном падении. [10]
![]() |
Схема распределения мощностей в рефлектометре. [11] |
Определим погрешности измерения коэффициента отражения Г рефлектометром. Для этого воспользуемся схемой распределения мощностей ( рис. 13 - 10), в которой приняты обозначения: Р - мощность, поступающая в рефлектометр от источника; Р и РЧ - мощности, ответвляемые первым ответвителем соответственно в направлении к индикатору и нагрузке вспомогательной линии; Р3 - Р - PI; PI и PS - части мощности Р3, ответвляемые вторым ответвителем соответственно к нагрузке вспомогательной линии и к индикатору; Ре Рз - ( Р4 Рв) - Рз - Р, PI - отраженная от объекта измерения мощность; Р8 и Рд - части мощности РГ, ответвляемые вторым ответвителем соответственно к индикатору и к нагрузке вспомогательной линии; Pio P. [12]
![]() |
Зависимость коэффициента. [13] |
Нами были проведены измерения коэффициентов отражения для систем бензол - гексан и нитробензол-гексан. [14]
Изложенный выше метод измерения коэффициентов отражения зеркал обеспечивает высокую чувствительность, но обладает недостатками, обычными для длинных интерферометров. На результатах измерения потерь сильно сказываются вибрации здания, пола, а также воздушные потоки. Небольшое случайное колебание расстояния между зеркалами как интерферометра, так и лазера вызывает большое изменение положения сигнала на экране осциллографа, а это не дает возможности провести точные измерения. [15]