Измерение - коэффициент - отражение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Женщины обращают внимание не на красивых мужчин, а на мужчин с красивыми женщинами. Законы Мерфи (еще...)

Измерение - коэффициент - отражение

Cтраница 3


Чтобы определить две константы, необходимо дважды произвести измерение коэффициента отражения.  [31]

Исследование блеска проводилось на специально сконструированном приборе путем измерения коэффициента отражения света от катодной поверхности. С помощью фотоэлемента регистрируется интенсивность отраженного света. В ультразвуковом поле блеск покрытия возрастает до более высоких значений плотностей тока. Блестящие осадки получаются в более широком интервале плотностей тока. При уменьшении рН электролита блеск никелевых покрытий снижается, что связано с уменьшением сглаживающего эффекта в кислых никелевых электролитах. Температура также не оказывает существенного влияния на блеск покрытий. При любой температуре осадки, полученные в ультразвуковом поле, имеют более блестящую поверхность, чем обычные.  [32]

33 К выводу пограничного условия. [33]

Вместо непосредственного измерения поглощения, с удобством пользуются измерением коэффициента отражения.  [34]

В последнее время применяют метод, основанный на измерении коэффициента отражения пятен хроматограммы. Однако этот вариант трудно осуществить в условиях учебной лаборатории, так как необходимо получить пятна очень правильной формы, что требует большого опыта.  [35]

В ленточных газоанализаторах определение концентрации анализируемого ингредиента производится путем измерения коэффициента отражения или поглощения светового потока от индикаторной ленты, изменяющей окраску в результате взаимодействия с анализируемым компонентом.  [36]

Как уже отмечалось выше, данные различных работ по измерению коэффициентов отражения часто противоречат друг другу. Это, вероятно, объясняется не столько ошибками эксперимента при измерении, сколько различием условий, при которых наносятся пленки и покрытия в сравниваемых работах.  [37]

С применением калиброванных шнуров всегда приходится иметь дело при измерениях коэффициентов отражения, степени дифференциальности и степени асимметрии самих измеряемых объектов. Иногда такие шнуры используются при измерениях входных сопротивлений и в некоторых других случаях.  [38]

Для устранения этих трудностей Д. Я. Светом был предложен модуляционный рефлектометрический метод измерения коэффициента отражения, который позволяет исключить влияние самоизлучения исследуемой поверхности. Предварительная модуляция светового потока от вспомогательного источника исключает собственное излучение поверхности покрытия. В работе [130] предложен относительный метод модуляционной рефлектоме-трии, позволяющий измерять коэффициенты диффузионного отражения.  [39]

Параметры матрицы рассеяния мостов определяются, как правило, путем измерений коэффициентов отражения и передачи.  [40]

Вследствие этого для анализа поглощения в некотором спектральном интервале достаточно провести измерение коэффициента отражения в такой спектральной области, на границах оторой коэффициент отражения становится постоянным. Для полупроводников большое влияние на коэффициент поглощения оказывают области спектра от ближней ультрафиолетовой до ближайшей инфракрасной. Эта область спектра чаще всего используется при экспериментальных исследованиях.  [41]

Вторая возможность определения б и у по кривым отражения заключается в измерении коэффициента отражения как функции длины волны при.  [42]

Полезно напомнить, что здесь, как и всюду, речь идет об измерении коэффициента отражения, который, по определению, равен отношению среднего потока электромагнитной энергии в отраженной волне к среднему ее потоку в падающей.  [43]

44 Приставка ИПО-76 для получения спектров внешнего отражения.| Приставка ЛШПВО2 для получения спектров многократного внутреннего отражения. [44]

Приставка ИПО-76 ( рис. 1) обеспечивает получение спектров однократного внешнего отражения, а также измерение коэффициентов отражения ( относительным методом) плоских вертикально ориентированных объектов. Объекты располагаются вне приставки и могут иметь размеры: диаметр до 150 мм, толщина до 50 мм, площадь исследуемой зоны 6X8 мм. Хрупкие объекты могут закрепляться в приставке с помощью воздушного присоса.  [45]



Страницы:      1    2    3    4    5