Cтраница 4
Шмидта [647] для энергий в области 2 - 3 8 эВ, которые были получены из измерений коэффициента отражения поляризованного света ( разд. В последней работе можно было также определить величины k; эти результаты показаны на фиг. [46]
Проведенное недавно сравнение результатов спектрофото-метрических и колориметрических измерений, выполненных в тридцати различных лабораториях мира, показало, что отклонения результатов измерений коэффициентов отражения белых и различных серых керамических пластинок составляет около 4 % и. Если в каждой длине волны для каждого прибора взять отношение результатов измерений серых и белых пластин, то полученные величины будут независимы от отражения стандартов окиси магния, использованных в разных лабораториях. Однако разброс полученных таким способом величин, хотя и уменьшенный по сравнению с исходным, все же достаточно велик, чтобы предположить наличие других причин погрешностей. [47]
Вероятно, особо следует сказать еще об одном виде измерений, связанном с интенсивным развитием в последнее время многослойной рентгеновской оптики - об измерении коэффициента отражения и разрешающей способности диспергирующих элементов для мягкой и ультрамягкой рентгеновской области. Для измерения коэффициентов отражения многослойных систем должна быть обеспечена возможность уотановки углов падения в широком диапазоне скользящих углов - от 10 до практически нормального падения. Измерение разрешающей способности требует высокого спектрального разрешения монохроматора и достаточно малой угловой расходимости выходящего из монохроматора пучка. Если учесть, что параметры существующих сегодня многослойных систем, имеющих ширину на полувысоте кривой отражения, на Ка-линии С около 30, выходящий из монохроматора пучок должен иметь угловую расходимость не хуже единиц угловых минут. [48]
Метод определения укрывистости по коэффициенту контрастности заключается в получении на стеклянных пластинках ступенчато нарастающих по толщине слоев высушенной краски из испытуемого пигмента и измерении коэффициентов отражения света ( яркости) при наложении пластинок на белый и черный фон. [49]
Сущность метода определения светостойкости заключается в получении накраски пигмента на бумаге, облучении части на-краски под ртутно-кварцевой лампой в течение нормированного времени, измерении коэффициентов отражения света облученной и необлученной частей накрасок и определении разности этих значений. В качестве пленкообразующего вещества при получении накрасок применяют трудноокисляющуюся желатину. [50]
Сущность метода определения укрывистости пигментов по коэффициенту контрастности заключается в приготовлении быстросохнущей краски с испытуемым пигментом, последовательном нанесении ее на стеклянные пластинки с нарастающими по толщине высушенными слоями, измерении коэффициентов отражения света ( яркости) при наложении пленок на белый и черный фон и последующем расчете коэффициента контрастности. [51]
![]() |
Принципиальная схема спектрофотометра СФ-2М. [52] |
Освещенность сферы является функцией суммарной мгновенной величины интенсивности света, отраженного от двух эталонов ( в случае измерения оптических плотностей и процентов пропускания) или образца и эталона ( в случае измерения коэффициентов отражения), помещенных соответственно в задних окнах интегрирующей сферы. Фототек, возникающий в фотоэлементе под влиянием суммарного светового потока, передается через усилитель на кинематическую систему прибора. [53]
Измерение коэффициентов отражения проводят в соответствии с инструкцией по пользованию спектрофотометром, в следующем порядке. В правую и левую кюветы помещают эталон белизны бария сульфат квалификации для отражательной спектрофотометрии и настраивают прибор. Регистрируют спектр отражения исследуемого лекарственного вещества. [54]
![]() |
Опенка интенсивности сероватого оттенка. по величине степени яркости р. [55] |
Измерение коэффициентов отражения проб проводят в соответствии с инструкцией по пользованию прибором при белом свете ( без светофильтра) и при красном, синем и зеленом светофильтрах или настройке монохроматора соответственно на длины волн 614, 459 и 522 им. Каждое измерение повторяют не менее 2 раз. [56]
Из этой формулы видно, что R очень мало отличается от единицы при больших п и х - Если свет падает не по нормали к поверхности, то коэффициент отражения зависит от поляризации света. Измерение коэффициента отражения Света при различных углах падения позволяет определить как п, так и % если только показатель поглощения % не слишком мал. Типичной для такого рода оптических измерений на полупроводниках является работа Эвери и Клега [1], в которой значения п и % для германия определены из измерений коэффициента отражения света от поверхности большого монокристалла в интервале длин волн от 0 35 до 1 3 мк. В исследованной области величина а изменялась довольно сильно, однако выражение и2 ( 1 - х2) остается почти постоянным для длин волн 0 6 мк. При более коротких длинах волн величина пг ( 1 - х2) быстро падает. Как показали Ларк-Горовиц и Мейснер [2], при длинах волн, несколько больших 2 мк, коэффициент отражения R для Ge сохраняет удивительное постоянство вплоть до длин волн порядка 150 мк. Такие значения R весьма типичны, хотя наблюдались также и большие значения R. Позже мы рассмотрим подробнее оптические свойства некоторых конкретных полупроводников. Значения диэлектрической постоянной е / е, полученные на основе этих измерений, равны 16 для Ge и 12 для Si ( согласно более современным данным, 16 для Ge и 11 5 для Si; см. гл. [57]
Коэффициент отражения наиболее точно определяется измерением отражения от одной просветленной поверхности по спектру в зависимости от длины волны. Для измерения коэффициента отражения по спектру существуют рефлексометры, а также специальные устройства - насадки к спектрофотометрам. [58]
Вероятно, особо следует сказать еще об одном виде измерений, связанном с интенсивным развитием в последнее время многослойной рентгеновской оптики - об измерении коэффициента отражения и разрешающей способности диспергирующих элементов для мягкой и ультрамягкой рентгеновской области. Для измерения коэффициентов отражения многослойных систем должна быть обеспечена возможность уотановки углов падения в широком диапазоне скользящих углов - от 10 до практически нормального падения. Измерение разрешающей способности требует высокого спектрального разрешения монохроматора и достаточно малой угловой расходимости выходящего из монохроматора пучка. Если учесть, что параметры существующих сегодня многослойных систем, имеющих ширину на полувысоте кривой отражения, на Ка-линии С около 30, выходящий из монохроматора пучок должен иметь угловую расходимость не хуже единиц угловых минут. [59]
Необходимо при этом отметить, что оценка с применением лейкометра является более точной и чувствительной, чем визуальная. Если по данным измерения коэффициента отражения лейкометром образцы во всех опытах были расположены строго в соответствии с изменением количества загрязнителя в пятнах, то при визуальной опенке порядок расположения в ряде случаев нарушался. [60]