Измерение - микронеровность
Cтраница 1
Измерение микронеровностей основано на интерференции света, для получения которой необходимо наличие двух когерентных пучков лучей, имеющих волны одной частоты. [1]
 |
Профилограф-профилометр модели 201. [2] |
Измерения микронеровностей поверхности возможны в пределах 5 - 14-го классов шероховатости, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм. [3]
 |
Профилограф-профилометр 201 завод Калибр. [4] |
Измерения микронеровностей поверхности возможно в пределах 5 - 14-го классов чистоты, проверяемый максимальный шаг неровностей 3 5 мм. [5]
 |
Схема профилометра конструкции В. М. Киселева.| Двойной микроскоп конструкции В. П. Линника. [6] |
Для измерения микронеровностей в пределах от 4-го до 14-го классов чистоты поверхности применяют профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. [7]
Для измерения микронеровностей применяют также профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. Возбуждаемые этим перемещением малые токи усиливаются и отмечаются гальванометром. [8]
Для измерения микронеровностей от 0 1 до 6 мкм с увеличением от 400 до 500 применяют микроинтерферометр МИИ-1 В. [9]
Для измерения микронеровностей на МИИ-4 требуется определить стрелу прогиба а интерференционной полосы в долях интервала между полосами Ь и результат умножить на 0 275 мк. [10]
 |
Схема профилографа ИЗП-17 конструкции Б. М. Левина.| Схема профй. [11] |
Для измерения микронеровностей в пределах от 4-го до 14-го класса чистоты поверхности применяют профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. [12]
Для измерения микронеровностей обычно применяется один из оптических методов - фотографический или визуальный. В тех случаях, когда необходимо для данной поверхности наиболее точно определить значения критерия НСр или Нск, применяют фотографический метод. В случае фотографического метода измеряемая поверхность с помощью прибора МИС-11 или МИИ-1 фотографируется. [13]
При измерении микронеровностей в одной и той же точке в монохроматическом или белом свете отклонения измеряемой величины находятся в пределах ошибки измерения на микроинтерферометре. [15]
Страницы: 1 2 3