Измерение - параметр - изделие
Cтраница 1
 |
Программа испытаний керамических микроконденсаторов. [1] |
Измерения параметров изделий обычно проводятся лишь в начале и конце последовательности. В качестве примера возможной компоновки климатических испытаний в табл. 4.5 приведена рекомендуемая МЭК. [2]
Измерение параметров изделий, установленных для данного вида испытания, за исключением проверки изоляции повышенным напряжением, как правило, проводят в конце испытаний, а при циклическом методе - в последнем цикле, в конце последнего часа выдержки при верхнем пределе температуры окружающего воздуха, не извлекая изделия из камеры. Если измерять параметры изделия, не извлекая его из камеры, технически невозможно или обоснована техническая нецелесообразность измерения параметров в камере, допускается измерять параметры изделий не более чем через 15 мин после их извлечения из камеры. [3]
Рекомендуется выполнять первоначальные и заключительные измерения параметров изделий при одних и тех же значениях температуры и влажности окружающей среды. [4]
На рабочих местах для измерений параметров изделия должен быть предусмотрен контроль условий и режима измерений в соответствии с методикой выполнения измерений для данного изделия. [5]
В свою очередь погрешность измерений параметров изделия ое связана с характеристиками измерений ( S-x, Дг) по формулам гл. [6]
 |
Взаимосвязь Ax / Sx, Рд и п. [7] |
Аналогично ведет себя корреляция результатов измерений параметров изделия. [8]
Таким образом, обеспечение высокой точности измерений параметров изделий и оценивание их погрешностей является сложным и трудоемким мероприятием. Для его выполнения необходимы средства измерений достаточной точности и быстродействия, вычислительные средства ( например, микрокалькуляторы), необходимо знание характеристик метода измерений, вида класса закона распределения погрешностей, поведения измеряемых параметров во времени и их корреляции. Поэтому при разработке эксплуатационной документации для сложных изделий необходимо, чтобы по каждому измеряемому определяющему параметру изделия разрабатывалась МВИ, а в отдельных случаях эти методики подвергались метрологической аттестации. Кроме того, представляется также совершенно необходимой метрологическая проработка эскизных и технических проектов сложных изделий и участие в этом метрологов предприятий-разработчиков. [9]
В процессе автоматизации испытаний интегральных микросхем автоматизируются измерения параметров изделий, контроль режимов испытательного оборудования, обработка результатов испытаний. [10]
В отдельных случаях, с целью повышения точности измерений параметров изделия, при анализе методов измерений величину НСП оценивают непосредственно. Обычно за доверительную границу вх принимают предел допускаемой погрешности средств измерений, используемых при измерениях, а также доверительные погрешности поправок при устранении систематической погрешности. [11]
Далее погрешность средства измерений ov связана функционально с погрешностью измерений параметра изделия, например, зависимостью 0, К OM Jy, где JM - дисперсия методической составляющей погрешности измерений. [12]
Результаты рассмотренного примера показывают, что неточность исходных данных, полученных путем измерений параметров изделия с систематическими и случайными погрешностями, вызывает соответствующие погрешности / разброс и смещение / оценки результата косвенного измерения. [13]
Приведенные материалы по теории контроля показывают, что основные характеристики метрологического обеспечения - погрешности измерений параметров изделия теснейшим образом функционально связаны с достоверностью измерительного контроля по параметрам, а последняя - с характеристиками контролируемых параметров изделия, методом и полнотой контроля изделия в целом. Последние непосредственно связаны с показателями качества и эффективности работы изделия, характеристиками его эксплуатации. Так, данные примеров 6, 9, 11 показывают, на что способна реальная система контроля, использующая метод ИКР. Оказывается, при проведении контрольных проверок состояния изделия в 20 случаях из 100 система контроля может забраковать фактически работоспособное изделие и в 15 случаях из 100 ошибочно отстранить его от работы, не заметив дефектов, в то время как контролируемое изделие фактически неисправное. Заметим, что основными причинами низкого качества рассмотренной в примере 11 системы контроля являются: несовершенный метод контроля ИКР1 и большие погрешности используемых средств измерений. [14]
Перечисленные характеристики точности прогнозирования и достоверности диагностирования специфичны, однако и они жестко связаны с погрешностями измерений параметров изделия и полнотой измерений или контроля. ГОСТ 23564 - 79) монотонно уменьшается примерно на 5 % при увеличении погрешности измерений в два раза ( для комбинационного метода поиска отказов и Q 0 5 - 1 0) и на 8 - 15 % при тех же данных для метода последовательного поиска отказов. Эта особенность позволяет аналогично характеристикам контроля работоспособности изделия по тем же зависимостям определять требуемую точность применяемых при прогнозировании и диагностировании средств измерений. [15]
Страницы: 1 2 3