Cтраница 4
Измерение электронного тока в них осуществляется стрелочным миллиамперметром, а ионного тока - микроамперметром или гальванометром. Такие установки имеют ряд недостатков. [46]
![]() |
Схематическое изображение импульсного прямопро-летного масс-спектрометра. [47] |
Отпирание электронного тока производится подачей на диафрагму кратковременного импульса напряжения, положительного по отношению к катоду. Образование ионов и их выталкивание из ионизационного пространства происходят в течение всего времени действия импульса напряжения. Поэтому между ионами с одинаковой массой, но возникшими в начале и в конце действия импульса, образуется разброс во времени, приводящий к уменьшению разрешающей способности масс-спектрометра. [48]
Модуляцию электронного тока производят путем подачи на управляющую сетку переменного напряжения 0 5 - 1 в. При этом все прочие компоненты обратного тока сетки, хотя и модулируются, но величина их переменных составляющих на несколько порядков ниже величины переменной составляющей ионного тока. [49]
![]() |
Схема ионного источника масс-спектрометра МХ-1303. [50] |
Часть электронного тока ( 150 - 170 мка), прошедшего через ионизационную камеру, улавливается коллектором. Катод изготовляется из вольфрамовой проволоки диаметром 0 1 мм; возможно применение ленточного катода. Минимальное число электродов и поверхностей электронно-оптической системы способствует стабильной работе источника при напуске веществ с высоким молекулярным весом. Ионный пучок формируется системой, состоящей из выталкивающего, вытягивающего, фокусирующего, корректирующего и ускоряющего электродов с апертурной диафрагмой. [51]
Ориентация орбитального электронного тока происходит, однако, не совсем так, как ориентация витка. Дело в том, что электрон, движущийся вокруг ядра, обладает моментом импульса L, подобно волчку. Волчок, на который действует сила тяжести ( рис. 239), стремящаяся повернуть его ось вниз в плоскости чертежа, как известно, реагирует на это действие своеобразно. [52]
Изучение инжекционных электронных токов в диэлектриках и полупроводниках позволяет на основе теории [13] определить такие важные характеристики, как подвижность носителей, концентрацию ловушек, время жизни и др. В работе [14] рассмотрены условия инжекции ионов в диэлектрик. [53]
![]() |
Ход электронного пучка по экрану. [54] |
Величиной электронного тока пушек и, следовательно, яркостью свечения пикселей управляет сигнал, поступающий с видеоконтроллера. [55]
Обусловленный электронным током /, ионный ток / j, возбужденный на пути длиной / в атмосфере газа с давлением р, описывается уравнением ( 25), разд. [56]
При электронном токе i - 1 ма эта величина соответствует области ионных токов i Ю-5 - ь 10 - 8 в. Токи такой величины могут быть измерены гальванометром. [57]
Чтобы найти электронный ток через плоскость д: 0, заметим, что электроны, покидающие базовую область и входящие в слой объемного заряда эмиттера, либо рекомбинируют там, либо диффундируют внутрь эмиттерной области. [58]
![]() |
Вольт-амперные характеристики плавящей дуги на разреженных парах металлов в ВДП. [59] |
У первых электронный ток в области катодного падения практически полностью обусловлен механизмом автоэлектронной эмиссии. Поэтому здесь наблюдаются четко выраженные катодные пятна. В частности, на стали плотность тока в катодных пятнах достигает 4 5 - 5 ка / см2, а температура в пятнах ( 2 7ч - 3) Х Х103 С. Установлено, что с увеличением тока растет и площадь ка / - тодных пятен, что приводит к выводу о постоянстве для каждого металла в данных условиях величины плотности тока в катодном пятне. [60]