Cтраница 2
Точность определения всех основных термохимических данных зависит, следовательно, от точности метода измерения изменения температуры, связанного с данным процессом. [16]
Длина поверхностной волны К должна выбираться из сорб-ражений получения наивысшей чувствительности, а следовательно, и точности метода измерения. [17]
Метрология занимается: установлением единиц измерений и воспроизведением их в виде эталонов, разработкой методов измерений, анализом точности методов измерений, исследованием и устранением причин, вызывающих погрешности измерений. [18]
Установлено, что наличие в составе до 1 % дизельного топлива снижает О.ч. на величину, находящуюся в пределах точности метода измерения. [19]
Из таблицы 6 видно, что при нагреве покрытия до 300 С параметр кристаллической решетки остается постоянным ( в пределах точности метода измерения), дальнейший нагрев до 700 С уменьшает параметр решетки, который затем остается постоянным при повышении температуры до 900 С. [20]
Развитие СФА зависит от двух факторов: применения более совершенных химических методов переведения определяемого компонента в поглощающее свет соединение и от точности методов измерения светопоглощения. Задачей настоящего обзора является рассмотрение перспектив и путей развития обоих направлений. [21]
Поэтому параметр s используют в качестве меры точности процесса изготовления или при повторных измерениях одной и той же величины в качестве меры точности метода измерения. [22]
Основными вопросами, которыми занимается метрология, являются: установление единиц измерений и воспроизведение их в виде эталонов; разработка методов измерений; анализ точности методов измерений, исследование и устранение причин, вызывающих погрешности измерений. [23]
Вместе с тем специфические особенности, присущие контактному методу определения неровностей поверхности, затрудняют оценку его метрологических возможностей и в первую очередь количественное определение погрешностей измерения. Задача установления точности метода измерения являлась основной в исследованиях, относящихся к этой области, но до настоящего времени не было единого решения этого вопроса. [24]
Увеличение точности и чувствительности метода измерения наиболее легко достигается с помощью увеличения чувствительности измерительной схемы. Таким образом, мостовая схема является средством увеличения чувствительности и точности метода измерения. Аналогичными средствами являются дифференциальная и компенсационная схемы, уменьшение пределов измерения приборов и использование приборов, не имеющих нулевого деления шкалы. Все эти способы широко применяются в измерительной технике. [25]
О влиянии магнитной обработки водных систем на их вязкость существуют разноречивые мнения. Такое различие, по-нашему мнению, во многом зависит от точности метода измерения вязкости, особенно - от режима течения воды в вискозиметре и от некоторых обычно не учитываемых факторов, влияющих на структурно-чувствительные свойства воды. [26]
Большой интерес представляет расчет кривой ММР из кинетических данных и сравнение ее с экспериментально полученной кривой. Это важно и для уточнения кинетической схемы, и для проверки точности метода измерения ММР при известной схеме. [27]
Общая погрешность каждого метода анализа почти в равной степени зависит от ошибок при отборе пробы и от ошибок измерения. И те и другие должны иметь одинаковый порядок, поскольку по экономическим соображениям нет смысла увеличивать точность метода измерения, пока не разработаны более точные методы отбора проб. [28]
Размерность s ( так же как и о) совпадает с размерностью случайной величины, для которой она определена. Поэтому параметр s используют в качестве меры точности процесса изготовления хах в данном примере) или в качестве меры точности метода измерения при повторных измерениях одной и той же величины. В обоих случаях учитывают также систематические погрешности. [29]
Параметр s характеризует величину рассеивания случайных величин относительно центра группирования. Поэтому параметр s используется, как в данном примере, в качестве меры точности процесса изготовления или при повторных измерениях одной и той же величины в качестве меры точности метода измерения. [30]