Измерение - высота - неровность - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Почему неправильный номер никогда не бывает занят? Законы Мерфи (еще...)

Измерение - высота - неровность

Cтраница 2


Для измерений высоты неровностей в микроскопе Б установлен окулярный микрометр. Двойной микроскоп В. П. Линника позволяет также фотографировать исследуемую поверхность с высотой неровностей от 0 9 до 60 мк.  [16]

Для измерений высоты неровностей в микроскопе Б установлен окулярный микрометр.  [17]

Погрешности измерения высот неровностей ( Я) визуальным методом составляют 0 08 - 0.04 мк при измерении шероховатости 10 - 12-го классов и 0 04 - 0 03 мк при измерении шероховатости 13 - 14-го классов.  [18]

Перед измерением высоты неровностей сначала совмещают нулевое деление шкалы барабана / отсчетного устройства с нулевым делением на стебле винта.  [19]

При измерении высоты неровностей двойным микроскопом МИС-11 используют метод светового сечения, заключающийся в следующем: пучок лучей от источника света через узкую щель и объектив направляют под некоторым углом на исследуемую поверхность. Отраженная световая полоска будет по форме близка к шероховатости исследуемой поверхности.  [20]

При измерении высоты неровностей с помощью винтового окулярного микрометра 13 его устанавливают так, чтобы одна из нитей перекрестия была параллельна изображению щели.  [21]

Запись и измерения высоты неровностей выполняются относительно внешней опоры, которой служит вертикально расположенный шпиндель с рычагом, несущим каретку с отверстием, для установки ощупывающей головки. Таким образом, дуга окружности описываемой иглой относительно оси вращения шпинделя, является базой отсчета неровностей испытуемой поверхности. Одна ощупывающая головка предназначена для выпуклых, а другая - для вогнутых поверхностей.  [22]

При системе Е измерение высоты неровностей от огибающей линии до дна впадины дает наглядное представление о шероховатости. Однако приборы, которые бы непосредственно измеряли шероховатость поверхности по системе Е, пока не созданы.  [23]

Показатель чистоты обработанной поверхности определяется измерением высоты неровностей, образующихся на поверхности металла после снятия стружки режущим инструментом.  [24]

Показатель качества обработанной поверхности определяют измерением высоты неровностей, образующихся на поверхности металла после снятия стружки режущим инструментом.  [25]

Шероховатое - поверхности реаа определяется измерением высоты неровностей профиля Kz по 10 точкам на базовой длине 8 мм.  [26]

27 Двойной микроскоп. [27]

В щуповых приборах контактного действия для измерения высоты неровностей используют вертикальные колебания иглы, перемещаемой по контролируемой поверхности. Колебания преобразуются в электрическое напряжение с помощью индуктивных, ме-ханотронных, пьезоэлектрических и других преобразователей. При перемещении по контролируемой поверхности алмазная игла 3 преобразователя вместе с якорем 1, подвешенном на опоре 2, совершает крутильные колебания.  [28]

29 Двойной микроскоп. [29]

В щуповых приборах контактного действия для измерения высоты неровностей используют вертикальные колебания иглы, перемещаемой по контролируемой поверхности. Колебания преобразуются в электрическое напряжение с помощью индуктивных, ме-ханотронных, пьезоэлектрических и других преобразователей. При перемещении по контролируемой поверхности алмазная игла 3 преобразователя вместе с якорем /, подвешенном на опоре 2, совершает крутильные колебания.  [30]



Страницы:      1    2    3    4