Измерение - высота - неровность
Cтраница 4
Микропрофилометр МИИ-12 предназначен для визуальной оценки и измерения высоты произвольно расположенных неровностей на наружных поверхностях, обладающих хорошей отражательной способностью. Измерение высоты неровностей производится в диапазоне от 0 1 до 0 8 мкм. [46]
Максимальные неровности поверхности резания измеряют, используя чаще всего видоизмененный метод светового сечения резца. При измерении высот неровностей на поверхность резания отбрасывается тень лезвия бритвы. При параллельном световом потоке, освещающем лезвие, образуется резкая граница между светом и тенью, которая хорошо выявляет неровности поверхности резанця, рассматриваемые и измеряемые через микроскоп. [47]
Сущность процесса формирования поверхности может быть раскрыта в результате всестороннего микроскопического и про-филографического исследования в сочетании с методами измерения шероховатости поверхности, микротвердости, остаточных напряжений и металлографического анализа. Ограничение исследований измерения высоты неровностей, образующихся при различных условиях обработки, с построением соответствующих графиков и составлением эмпирических соотношений между размерами неровностей и отдельными технологическими факторами дает частные зависимости только в пределах проведенных экспериментов. Такие исследования не определяют общих закономерностей процесса формирования поверхности. В связи с этим совершенствование методов формообразования поверхностных слоев и отработку оптимальных режимов изготовления деталей следует проводить с учетом эксплуатационных свойств поверхности. [48]
Сущность процесса формирования поверхности может быть раскрыта в результате всестороннего микроскопического и профилографическо-го исследования, в сочетании с методами измерения шероховатости, микротвердости, остаточных напряжений и металлографического анализа. Ограничение исследований измерениями высоты неровностей, образующихся при различных условиях обработки, с построением соответствующих графиков и составлением эмпирических соотношений между размерами неровностей и отдельными технологическими факторами дает лишь частные зависимости только в пределах проведенных экспериментов. Такие исследования не вскрывают общих закономерностей процесса формирования поверхности. В связи с этим совершенствование методов формообразования поверхностных слоев и отработку оптимальных режимов изготовления деталей следует проводить с учетом эксплуатационных свойств поверхности. [49]
В результате настройки интерференционные полосы устанавливаются перпендикулярно следам обработки поверхности. Микроинтерферометры предназначены для измерения высоты неровностей на таких поверхностях, следы обработки на которых параллельны друг другу. При хаотическом направлении царапин интерференционная картина имеет сложный вид и измерение неровностей становится невозможным. [50]
 |
Окружность по наименьшим квадратам на круглограмме. [51] |
Наконец, огибающую линию опускают еще во внутрь профильной кривой на величину G и получают базовую линию / / / - / / / профиля в данной системе. Это различие можно считать пренебрежимо малым, поскольку погрешность измерения усредненных высот неровностей, как будет показано в дальнейшем, в 5 и более раз превышает данное расхождение. [52]
Перт-0 - метр ( Хоммельверке, Маннгейм) изготовляется с различными электронными вычислителями показаний волнистости, шероховатости, качества полирования, состояния опорных ( несущих) поверхностей, арифметических и квадратических значений средней неровности. Прибор позволяет настраиваться на измерение высот неровностей 0 25, 1 0, 2 5 и 10 мк. Картина профиля записывается с помощью специального устройства. [53]
 |
В. Схема рефлексометра. [54] |
Неровности на поверхности изделия вызывают местное изменение шага растра, что приводит к искривлению муаровых полос, пропорциональному высоте неровностей. Это искривление измеряется с помощью окулярного микрометра. Увеличение прибора ОРИМ-1 50 - 300, поле зрения 2 5 - 0 4 мм, диапазон измерения высот неровностей 0 4 - 40 мкм. [55]
Метод светового сечения заключается в следующем ( фиг. Так как исследуемая поверхность имеет определенную шероховатость, то световая полоска будет иметь вид искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассма-тривается через микроскоп, наклоненный также под углом к исследуемой поверхности. На принципе светового сечения основан двойной микроскоп акад. Линника, служащий для измерения высоты неровностей наружных поверхностей в пределах от 5 до 60 мк. [56]
Страницы: 1 2 3 4