Измерение - высота - неровность
Cтраница 3
 |
Схема растрового микроскопа. [31] |
На основе этого явления предложена методика измерения высот неровностей и степени шероховатости с помощью растрового микроскопа. [32]
 |
В. Многолучевой микроинтерферометр МИИ-11. [33] |
Микропрофилометр МИИ-12 предназначен для визуальной оценки и измерения высоты произвольно расположенных неровностей на наружных поверхностях, обладающих хорошей отражательной способностью. Измерение высоты неровностей производится в диапазоне от 0 1 до 0 8 мкм. [34]
Из этой таблицы видно, что пределы измерения высот неровностей посредством соседних пар объективов в значительной мере перекрываются, что позволяет совокупностью четырех пар объективов уверенно охватить весь установленный для прибора диапазон измерений высот неровностей от 0 8 до 62 5 мкм. [35]
Двойной микроскоп МИС-11 ( рис. 25) предназначен для измерения высоты неровностей Rz для классов чистоты V3 - V9 бесконтактным методом. Измерение высоты неровностей основано на принципе светового сечения, заключающегося в следующем. [36]
При определении параметра Rz на базовой длине выполняют пять измерений высоты неровностей поверхности. Значение Rz является средним арифметическим из этих пяти измерений. Параметр Rz содержит минимальную информацию о поверхности, поэтому его назначают на поверхности, получаемые литьем, ковкой, чеканкой. [37]
При определении параметра Rz на базовой длине выполняют пять измерений высоты неровностей поверхности. Значение Rz является средним арифметическим из этих пяти измерений. Параметр Rz содержит минимальную информацию о поверхности, поэтому его назначают на поверхности, получаемые литьем, ковкой, чеканкой. [38]
Однообъективный растровый измерительный микроскоп ОРИМ-1, Этот микроскоп предназначен для измерения высоты неровностей наружных поверхностей со следами обработки, имеющими определенное преимущественное направление в пределах от 0 4 до 40 мкм. [39]
Интерференционное устройство МИО-1 выпускается как принадлежность к отечественным металлмикроскопам и предназначено для исследования шлифов методом интерференционного контраста и для измерения высоты неровностей на поверхности. [40]
Во время работы прибора головка поддерживается одной из сменных опор, скользящей по измеряемой поверхности, служащей тем самым базой для измерения высот неровностей. Для проверки шероховатости с большим шагом предназначается опора с плоской контактирующей поверхностью. Для проверки малых деталей применяется опора с винтом, опирающимся на самостоятельную поверхность, например, на поверхность концевой меры длины. [41]
Дальнейшее развитие этот метод получил в профилоскопе, в котором в качестве управляемого источника света использована электронно-лучевая трубка [34] и применен компенсационный метод измерения высот неровностей. [42]
Принцип действия приборов светового сечения заключается в получении увеличенного изображения профиля измеряемой поверхности с помощью лучей, направленных наклонно к этой поверхности, и измерении высоты неровностей в получаемом изображении. [43]
Из этой таблицы видно, что пределы измерения высот неровностей посредством соседних пар объективов в значительной мере перекрываются, что позволяет совокупностью четырех пар объективов уверенно охватить весь установленный для прибора диапазон измерений высот неровностей от 0 8 до 62 5 мкм. [44]
Двойной микроскоп МИС-11 ( рис. 25) предназначен для измерения высоты неровностей Rz для классов чистоты V3 - V9 бесконтактным методом. Измерение высоты неровностей основано на принципе светового сечения, заключающегося в следующем. [45]
Страницы: 1 2 3 4