Cтраница 4
Для этого необходимо определить приближение для расчета формирования изображения дефекта и учесть влияние дифракционных явлений. [46]
![]() |
Схема установки для зарядки и проявления ксерографических. [47] |
В последнее время успешно разрабатываются новые методы получения изображения дефектов при просвечивании, основанные на образовании электростатического рельефа. [48]
![]() |
Выявляемость дефектов в зависимости от их.| График выявляемое трещин просвечиванием. [49] |
На снимке при этом становится невозможным определить границу изображения дефекта, а также и границы полутеней. Аналогичное явление получается и при дефектах трапецеидальной формы. [50]
Процесс электрорадиографии ( ксерографии) состоит в получении изображения дефекта на пластине. Плоскостные рентгеновские изображения преобразуются пластиной из полупроводникового материала в двухмерный рельеф проводимости, который становится показателем наличия дефекта. [51]
При просвечивании рентгеновскими и гамма-лучами на специальной пластинке получается изображение дефектов в металле. [52]
![]() |
Схемы образования геометрической нерезкости при ступенчатом ( а и овальном ( 6 дефектах. [53] |
Минимальная выявляемая разность плотностей почернения AZ) min между изображением дефекта и основным фоном снимка определяется рядом факторов, к числу которых относятся степень совершенства глаза оператора, яркость экрана расшифровочного оборудования и условия расшифровки, а также размеры и форма изображения дефекта. [54]
Определение лучевого размера дефектов может производиться путем измерения плотности почернения изображения дефекта на снимке, так как она изменяется в зависимости от величины дефектов. Измерение величины дефектов по плотности почернения их изображений без специальных приспособлений дает лишь весьма приближенные результаты. [56]