Светлопольное изображение

Cтраница 1

Светлопольные изображения подобны темнопольным, если центр напряжений находится на входной поверхности, и являются дополняющими, если он находится на выходной поверхности. Для определенных диапазонов изменения напряжения и параметров экстинкции были обсуждены исключения из правила Эшбн - Брауна. По-видимому, это правило справедливо для многих практических применений, включая некоторые случаи рентгеновской топографии см. разд. [1]

В светлопольном изображении кристаллической пленки брэгговские пучки обычно отсекаются диафрагмой; следовательно, интенсивность изображения маленького элемента пленки определяетея интенсивностью проходящего пучка на выходной поверхности этого элемента. Подобно этому в темнопольном изображении интенсивность определяется интенсивностью того дифрагированного луча, который может пройти через диафрагму. Уравнение ( 13) связывает интенсивность отражения кристалла с толщиной t и параметром 5афф, учитывающим локальную ориентацию и экстинкционное расстояние. Поля напряжений и дефекты, такие как дефекты упаковки, могут привести к изменению параметра 53фф одного элемента пленки по отношению к соседнему и, таким образом, к локальному изменению отраженных и трансэмиссионных интенсивностей. Контраст, который вызывается такими пространственными изменениями условий дифракции, носит название дифракционного контраста и будет обсуждаться в дальнейшем, в разд. [2]

В светлопольном изображении изогнутого кристалла может быть ряд темных полос, соответствующих усло вию максимальной интенсивности ( sg0) для разных g ( рис. 21.3); эти полосы называют изгибными экстинкци-онными контурами. [3]

На светлопольных изображениях структуры аморфных сплавов ( рис. 12.4, а) наблюдается пятнистый контраст с фрагментами размером порядка 10 нм. [4]

Профиль интенсивности на светлопольном изображении остается симметричным около центра фольги, тогда как темно-польное изображение становится асимметричным. [5]

На фото 69 приведено светлопольное изображение ( негатив) частицы исходной термической сажи, на котором кружками показаны изображения селекторной диафрагмы диаметром 600 А, а также дифракционные картины Ъ, с, d, e, / соответствующих участков частицы, указанные стрелками. Искривление слоевых линий на электронограммах, а также некоторое тангенциальное расширение базисных рефлексов указывают на сферическую ориентацию базисных плоскостей, нормали которых располагаются радиально. Отсутствие рефлексов с индексами hkl, hoi и okl свидетельствует о полной азимутальной дезориентации базисных плоскостей углерода. Эти результаты непосредственно доказывают, что в частице сажи отсутствует кристаллическая структура и углеродные слои, как и предполагалось ранее, ориентированы своей плоскостью параллельно поверхности частицы. [6]

Схема винтовой дислокации ( а и амплитудно-фазовые диаграммы, построенные для столбиков ячеек ABC ( б и DEF ( в, располагающихся слева и справа от линии дислокации. ОО1 - линия дислокации. [7]

Таким образом, в светлопольном изображении дислокация видна как темная линия, расположенная по одну сторону от ядра дислокации. Это справедливо и для других типов дислокаций. [8]

Это очевидно означает, что темнопольное и светлопольное изображения поменялись местами. [9]

На рис. 8, а в светлопольном изображении видны двойники отжига и дефекты упаковки в матрице. Темнопольное изображение в рефлексе е-мартенсита позволяет выявить тонкую структуру двойников. Они состоят из тонких параллельных пластин е-мартенсита, перпендикулярных плоскости фольги. [10]

Определить толщину фольги сплава на основе а-железа, если в светлопольном изображении винтовой дислокации, располагающейся наклонно к поверхности фольги, имеется 9 темных осцилляции. [11]

Характер первого контура ( рядом с верхней поверхностью объекта) на светлопольном изображении дефекта в толстой фольге ( 64) зависит только от знака а. [12]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объект на просвет в широком диапазоне увеличений, получать темнопольные и светлопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка на просвет и на отражение, микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 1 - 2 мк. [13]

Если частица находится ближе к отражающему положению, чем матрица, то частица будет в светлопольном изображении казаться более темной. В металлических сплавах матрицей обычно является твердый раствор с типичной для металлов кристаллической структурой - г.ц.к., г. к или о.ц.к. Выделение чаще всего представляет собой или упорядоченные фазы ( на основе решетки матрицы) или металлические соединения. Поэтому обычно частицы новой фазы видны в электронномикроскопическом изображении более темными, но если это связано именно с ориентационным фактором ( а не с большим поглощением), то контраст может меняться на обратный при наклоне объекта, а подобные частицы в другой ориентации или в соседних участках объекта оказываются светлыми. На краях изображения очень крупных частиц можно видеть интерференционные полосы типа тех, которые известны в изображении наклонных стыков зерен поликристаллической фольги. [14]

На первый попадают нерассеянные электроны, и после преобразования и усиления соответствующих сигналов на экране ЭЛТ появляется светлопольное изображение. На кольцевом детекторе собираются рассеянные электроны, создающие гемнополъ-ное изображение. С помощью анализатора энергии электроны, прошедшие сквозь объект, разделяются на упруго и неупруго рассеянные пучки. Каждый пучок попадает на свой детектор, и на ЭЛТ наблюдаются соответствующие изображения, содержащие дополнит, информацию об элементном составе объекта. ПРЭМ оснащаются всеми используемыми в элек - тронной микроскопии устройствами для аналитич. [15]

Страницы: 1 2 3