Cтраница 3
Дифракционный контраст возникает вследствие различия в интенсивностях. Поскольку изображение формируется либо прямо прошедшим пучком ( светлополь-ное), либо дифрагированным ( темнопольное), приближение к брэгговскому положению каких-либо кристаллических плоскостей данного участка фольги приводит к потемнению на светлопольном изображении этого участка и посветлению на темнопольном. [31]
Это означает, что около входной поверхности фольги картина контуров на светлопольном и темнопольном изображениях одинакова. Сначала рассмотрим светлопольное изображение. [32]
Основной принцип темнополь-ного ЭМ состоит в том, что изображение объекта строится электронами, отраженными от определенного семейства кристаллографических плоскостей под углом Брэгга или близким к нему. Для этого либо соответствующим образом наклоняется электронная пушка, либо - что хуже - несколько смещается с оси ЭМ объектная диафрагма. Как известно, контраст светлопольного изображения достигается за счет малого апертурного угла, устраняющего возможность попадания на экран ЭМ дифрагированных электронов. [33]
Всеми свойствами, рассмотренными выше, обладают изображения только дислокаций, расположенных не очень близко к поверхности фольги. Изображения же дислокаций, расположенных вблизи поверхности, имеют много общего с контурами дефекта упаковки. Так, на передней поверхности темнопольное и светлопольное изображения одинаковы, тогда как на задней поверхности они псевдодополнительны. Это позволяет установить, какой из концов дислокации лежит на входной поверхности фольги. [34]
Хирш и др. [235] предложили простуюсхему, наглядно показывающую, как образуются параллельные контуры в случае наклонного дефекта. Они предположили, что интенсивность пучка, рассеянного в фольге, описывается периодической функцией (2.24), как показано на фиг. Каждый раз, когда плоскость дефекта пересекает плоскость семейства pit на светлопольном изображении будет появляться темный контур. Расстояние между контурами равно а t e ctg i. Эта схема правильно описывает также периодический характер интенсивности пучка, выходящего из нижней поверхности кристалла. [35]
Темнопольное изображение формируется неаксиальными пучками и потому может быть слегка деформированным. В темном поле контраст формируется обычно известным пучком, что не всегда бывает в случае светлопольных изображений, где в контраст могут вносить вклад несколько дифрагированных пучков. [36]
Толщинные полосы получаются от равных толщин образца при постоянном угле падения первичного пучка. Для клиновидного кристалла толщинные полосы параллельны ребру клина и удалены друг от друга на равные расстояния, причем чем больше отклонение кристалла от отражающего положения, тем меньше расстояние между полосами. Поворачивая малую частицу на несколько градусов от угла Брэгга, можно непосредственно видеть ее кристаллографическую огранку, которая незаметна при светлопольном изображении. [37]
Во втором методе [449] используется так называемое аномально широкое изображение петель, лежащих у поверхности кристалла. Как показали расчеты, основанные на динамической теории и проводившиеся на счетной машине, при наблюдении дислокационной петли с ребра изображение должно быть асимметричным. На одной стороне изображения светлый полумесяц, а на другой - темный. На светлопольном изображении расположение этих полумесяцев противоположное для петель, находящихся около верхней и нижней поверхностей фольги. Но на темнопольном изображении оно одинаково для дислокационных петель, находящихся и наверху, и внизу образца, вследствие аномальной абсорбции. На темнопольном изображении вакансионной петли белый полумесяц расположен вдоль дифракционного вектора. На изображении междоузельной петли он лежит против дифракционного вектора. [38]