Светлопольное изображение
Cтраница 2
 |
Электронная микрофотография ( а и электронограмма ( б сплава Fe 16 % ( ат. В ( И. В. Еднерал, Г. В. Мартинсон, Ю. А. Ска-ков. [16] |
Изгибы кристаллической фольги приводят к тому, что в некоторых участках будет точно выполняться условие Вульфа-Брэгга и в светлопольном изображении эти участки имеют вид темных полос изгибных экстинк-ционных контуров. [17]
Не должно быть других ( систематических или несистематических) сильных рефлексов; в противном случае нельзя для фокусировки использовать светлопольное изображение. [19]
Если интерференции дифрагированных пучков с прошедшим пучком или между собой препятствует ограничение, накладываемое апертурой объективной линзы, или если при данных условиях эксперимента разрешение микроскопа недостаточное, изменение интенсивности прошедшего пучка на светлопольном изображении будет зависеть от положения. На темнопольных изображениях, полученных от отдельных дифрагированных пучков, от положения будет зависеть изменение интенсивности-дифрагирован-ных пучков. Совершенные плоскопараллельные кристаллы ( однородной толщины) не будут давать контраста, однако любой дефект, изгиб или изменение толщины кристалла могут привести к его возникновению. [20]
Поскольку постоянное смещение о всей колонки не приводит к изменению интенсивности прошедшей и рассеянной волн, можно сделать довольно общий вывод, что в кристалле с центральной симметрией колонки с функциями смещения R ( z) и R0 - R ( f z) дадут одинаковую интенсивность светлопольного изображения. [21]
На рис. 2.43 показаны светлопольное изображение и электронограмма, полученные при исследовании тонких фольг сплава Ti - 51 % ( ат. [22]
Было показано, что при п 1 изображение представляет собой двойную черно-белую линию. При п 1 внутренняя линия светлопольного изображения, создаваемого и верхним, и нижним следами скольжения, светлая. Темнопольное же изображение - такое же, как светлопольное, у верхнего следа, но является дополнительным к светлопольному у нижнего следа ( ср. Это позволяет различать верхний и нижний концы следа скольжения. Хотя принятая модель слишком упрощена, согласие с наблюдениями, проведенными на нержавеющей стали, оказалось удивительно хорошим. [23]
 |
Получение темно-польного изображения. [24] |
Наоборот, менее рассеивающие детали предмета будут представлены на экране более светлыми участками. Поэтому полученное описанным способом изображение носит название светлопольного изображения. [25]
Сравнительно крупные некогерентные выделения карбидных или других фаз металлических сплавов, которые имеют более низкую симметрию решетки, либо имеют большой размер ячейки и характеризуются большим числом отражающих положений по сравнению с числом таких положений для типичных металлических решеток. Поэтому в электроннооптических изображениях частицы этих фаз обычно кажутся непрозрачными - темными в светлопольных изображениях. [26]
Вблизи же точки D отклонение s увеличивается, и соответствующая область будет светлой на светлопольном изображении. [27]
Если объект или отдельные его участки имеют кристаллическую структуру, то, кроме диффузного рассеяния, на контраст изображения будет влиять еще и дифракционное рассеяние. В общем случае углы дифракции превышают апертурный угол объектива, поэтому кристаллические участки в светлопольном изображении при прочих равных условиях кажутся более темными, чем аморфные. [28]
Если s отрицательно, то увеличение параметра решетки приведет кристалл в строго брэгговское положение. Если жез положительно, то локальное уменьшение параметра решетки увеличит локальную интенсивность рассеянного излучения и в результате на светлопольном изображении возникнет темная область. [29]
 |
Текстурованная пленка алюминия, полученная конденсацией из паров на кристалле КС1. Зерна ориентированы плоскостью ( 111 параллельно подложке. Х60 000. [30] |
Страницы: 1 2 3